[发明专利]二自由度位置控制方法和装置以及介质存储装置无效

专利信息
申请号: 200710102236.6 申请日: 2007-05-08
公开(公告)号: CN101149954A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 高石和彦 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B21/10 分类号: G11B21/10
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉;吕俊刚
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 自由度 位置 控制 方法 装置 以及 介质 存储
【权利要求书】:

1.一种位置控制方法,该位置控制方法用于通过致动器将对象的位置控制到目标位置,所述位置控制方法包括以下步骤:

基于所述对象的目标位置和所述对象的当前位置,来计算位置误差;

根据所述位置误差与当前观测器的当前采样的估计位置之间的估计位置误差,来校正当前采样的估计位置;

计算经校正的估计位置与所述当前采样的目标轨迹之间的差;

基于一个采样前的输出值和所述差,来计算从采样时间点提前了预定时间的估计位置;

基于所述提前的估计位置,来计算对所述致动器的输出值;以及

基于经校正的估计位置、所述当前采样的输出值、以及一个采样前的输出值,来计算用于下一输出值计算的估计位置。

2.根据权利要求1所述的位置控制方法,该方法还包括以下步骤:

计算用于计算下一输出值的估计位置与当前采样+0.5个采样时的目标轨迹之间的差;

基于0.5个采样前的输出值、所述当前采样的输出值、以及所述差,来计算从采样时间点提前了0.5个采样的估计位置;

基于所述提前的估计位置,来计算对所述致动器的输出值;以及

基于经校正的估计位置、所述当前采样的输出值、0.5个采样前的输出值、以及所计算的输出值,来计算下一采样的估计位置。

3.根据权利要求2所述的位置控制方法,其中,计算所述提前的估计位置的步骤还包括如下步骤:使用所述估计位置误差,对用于计算下一输出值的估计位置进行校正。

4.根据权利要求1所述的位置控制方法,该方法还包括如下步骤:基于所述目标位置,产生各个采样时间点处的目标轨迹。

5.根据权利要求2所述的位置控制方法,该方法还包括如下步骤:基于所述目标位置,产生各个采样时间点与从所述采样时间点提前了0.5个采样的时间点之间的目标轨迹。

6.根据权利要求1所述的位置控制方法,其中,计算所述位置误差的步骤还包括如下步骤:计算从至少读取存储介质中的数据的读写头的输出中获取的当前位置与用于驱动所述致动器并将所述读写头移动到所述存储介质的预定位置的目标位置之间的位置误差。

7.一种介质存储装置,该介质存储装置包括:

读写头,用于至少读取存储介质上的数据;

致动器,用于将所述读写头定位到所述存储介质的预定位置;和

控制单元,用于根据所述读写头的目标位置和从所述读写头获取的当前位置来计算位置误差,并计算用于通过当前观测器控制来驱动所述致动器的输出值,

其中,所述控制单元根据所述位置误差与当前观测器的当前采样的估计位置之间的估计位置误差来校正当前采样的估计位置,计算经校正的估计位置与所述当前采样的目标轨迹之间的差,基于一个采样前的输出值和所述差来计算从采样时间点提前了预定时间的估计位置,基于所述提前的估计位置来计算对所述致动器的输出值,并基于经校正的估计位置、所述当前采样的输出值、以及一个采样前的输出值来计算用于下一输出值计算的估计位置。

8.根据权利要求7所述的介质存储装置,其中,所述控制单元计算用于计算下一输出值的估计位置与当前采样+0.5个采样时的目标轨迹之间的差,基于0.5个采样前的输出值、所述当前采样的输出值、以及该差来计算从采样时间点提前了0.5个采样的估计位置,基于所述提前的估计位置来计算对所述致动器的输出值,并且基于经校正的估计位置、所述当前采样的输出值、0.5个采样前的输出值、以及所计算的输出值来计算下一采样的估计位置。

9.根据权利要求8所述的介质存储装置,其中,所述控制单元使用所述估计位置误差对用于计算下一输出值的估计位置进行校正,以计算所述提前的估计位置。

10.根据权利要求7所述的介质存储装置,其中,所述控制单元基于所述目标位置,产生各个采样时间点处的目标轨迹。

11.根据权利要求8所述的介质存储装置,其中,所述控制单元基于所述目标位置,产生各个采样时间点与从该采样时间点提前了0.5个采样的时间点之间的目标轨迹。

12.根据权利要求8所述的介质存储装置,该介质存储装置还包括主轴电机,用于使作为所述存储介质的存储盘旋转。

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