[发明专利]液晶显示装置及其缺陷修复方法无效

专利信息
申请号: 200710102353.2 申请日: 2007-04-30
公开(公告)号: CN101067688A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 横沟政幸 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 液晶 显示装置 及其 缺陷 修复 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及液晶显示装置及其缺陷修复方法,特别涉及具有有源元件的液晶显示装置及其缺陷修复方法。

背景技术

具有作为有源元件的TFT(Thin Film Transistor:薄膜晶体管)的液晶显示装置中,一般地像素被设置成矩阵状。而且,在各个像素中分别设置像素电极和对写入到该像素电极的电压进行控制的TFT。并且,TFT的控制信号从栅极布线供给,写入到像素电极的电压从源极布线供给。

但是,在安装有多个经复杂的制造工艺而形成的TFT的液晶显示装置中,要无缺陷地制造全部的TFT是困难的。因此,需要修复有缺陷的TFT以提高液晶显示装置的制造成品率。作为其修复方法,有在液晶显示装置中设置冗余TFT结构的方法。

具体地说,是在专利文献1中记载的如下结构:在设置在阵列衬底的栅极布线与源极布线的交点处的各像素中,设置进行常规驱动的TFT和备用TFT。因此,在该液晶显示装置中,在进行常规驱动的TFT有缺陷的情况下,对备用TFT的漏电极与像素电极的重叠部分施加激光等光能,使漏电极与像素电极电连接,由备用TFT来驱动像素。即,在专利文献1中,通过将有缺陷的TFT替换为备用TFT,由此,使点缺陷得到修复。

专利文献1:特开平4-149411号公报

但是,在专利文献1所示的现有的冗余TFT结构中,在正常像素与修复后的像素(以下,也称为修复像素)之间,像素电极与栅电极间的寄生电容Cgd不同。因此,即使施加相同的电压,在正常像素与修复像素之间,保持电压也不同,在正常像素与修复像素之间产生亮度差。即,由于在正常像素与修复像素之间视觉辨认度不同,所以,无法修复成与正常像素相同的显示品质。

并且,在现有的冗余TFT结构的情况下,由于在一个像素上连接2个TFT,所以,寄生电容Cgd增大至约2倍,液晶的保持电压降低。其结果是,产生显示不均匀等显示品质的降低。另外,由于栅极布线或源极布线的布线负载电容也增加至约2倍,所以,若将现有的冗余TFT结构应用于高分辨率的液晶显示装置中,往往会发生由驱动信号的延迟等引起的显示不均匀。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可将起因于TFT的点缺陷修复成正常像素并且显示品质较高的液晶显示装置及其缺陷修复方法。

本发明的液晶显示装置包括:多条栅极布线;与上述栅极布线正交地设置的多条源极布线;多个像素电极,和上述栅极布线与上述源极布线的交叉部对应,设置成矩阵状;为每个上述像素电极配置的第一TFT部,具有与上述栅极布线连接的第一栅电极、与上述源极布线连接的第一源电极、与上述像素电极连接的第一漏电极;为每个上述像素电极配置的第二TFT部,具有第二栅电极、第二源电极和第二漏电极,其中,上述第二TFT部不具有在平面上与上述栅极布线以及上述像素电极之中至少一个重叠的部分,上述第二栅电极与上述栅极布线间以及上述第二漏电极与上述像素电极间的至少其中之一未进行电连接。

在本发明所述的液晶显示装置中,第二TFT部不具有在平面上与栅极布线以及像素电极之中至少一个重叠的部分,第二栅电极与栅极布线间以及第二漏电极与像素电极间的至少其中之一未进行电连接,所以,可提供一种将起因于TFT的点缺陷修复成正常像素并且显示品质较高的液晶显示装置。

附图说明

图1是表示本发明实施方式1的液晶显示装置的一个像素结构的平面图。

图2是表示本发明实施方式1的液晶显示装置的修复处理后的一个像素结构的平面图。

图3是表示本发明实施方式1的液晶显示装置的驱动波形的图。

图4是表示本发明实施方式1的液晶显示装置的一个像素的等效电路的电路图。

图5是表示本发明实施方式1的液晶显示装置的修复处理后的一个像素的等效电路的电路图。

图6是表示本发明实施方式2的液晶显示装置的一个像素结构的平面图。

图7是表示本发明实施方式3的液晶显示装置的一个像素结构的平面图。

图8是表示本发明实施方式4的液晶显示装置的一个像素结构的平面图。

图9是表示本发明实施方式5的液晶显示装置的一个像素结构的平面图。

具体实施方式

实施方式1

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