[发明专利]集成电路

权利要求书

1.一种能够检验电路工作速度的集成电路，该集成电路包括：

将被测试的内部电路；

控制电路，其位于所述内部电路与外部设备之间，用于通过使用读命令将读数据从所述外部设备输入到所述内部电路，并且用于通过使用写命令将从所述内部电路输出的写数据输出到所述外部设备；

测试存储部分，其包括读数据存储部分和写数据存储部分，所述读数据存储部分用于存储以低速输入的所述读数据，所述写数据存储部分用于存储从所述控制电路输出的所述写数据；

命令解释电路，其用于解释由所述控制电路发出的所述读命令和所述写命令，用于在确定所述读数据必须被输入到所述控制电路时将所述读数据从所述测试存储部分以高速供应到所述控制电路，并且用于在确定所述写数据被从所述控制电路输出时将从所述控制电路输出的所述写数据以高速供应到所述测试存储部分；

输入电路，其用于将从所述外部设备输入的所述读数据以低速输入到所述测试存储部分；以及

输出电路，其用于将供应到所述测试存储部分的所述写数据以低速输出到所述外部设备。

2.如权利要求1所述的集成电路，其中：

在所述命令解释电路和所述测试存储部分之间执行所述读数据的输入和所述写数据的输出；

所述输入电路将所述读数据输入到所述测试存储部分；以及

所述输出电路将所述写数据输出到所述外部设备。

3.如权利要求1所述的集成电路，其中所述输入电路与所述输出电路集成在一起。

4.如权利要求1所述的集成电路，其中所述外部设备将低速工作时钟输入到所述输入电路和所述输出电路，并且将具有比所述低速工作时钟更高速度的工作时钟输入到所述命令解释电路。

5.如权利要求1所述的集成电路，还包括：

数据输入输出部分，其用于在所述控制电路和外部之间执行数据的直接输入输出；以及

低速数据输入输出部分，其用于经由所述测试存储部分在所述控制电路和所述外部之间执行数据的输入输出，

其中所述数据输入输出部分和所述低速数据输入输出部分是分开提供的。

6.如权利要求5所述的集成电路，还包括转换电路，该转换电路用于转换输入到所述低速数据输入输出部分和从所述低速数据输入输出部分输出的数据的位宽以及输入到所述测试存储部分和从所述测试存储部分输出的数据的位宽。

7.如权利要求6所述的集成电路，其中所述转换电路位于所述测试存储部分和所述外部设备之间，其包括用于通过比较确定从所述测试存储部分输出的多段写数据是否相同的比较电路，并且在所述多段写数据相同的情况下将所述多段写数据中的一段和由所述比较电路通过所述比较所获得的结果输出到所述低速数据输入输出部分。

8.如权利要求1所述的集成电路，其中：

所述外部设备缺省输出WAIT到所述控制电路；并且

所述外部设备在不是所有所述读数据都被存储在所述测试存储部分中时或者在所述测试存储部分中没有足够的空间来存储所述写数据时释放所述WAIT。

9.如权利要求8所述的集成电路，还包括检测电路，该检测电路用于检测所述WAIT的边沿并且用于产生边沿脉冲，该边沿脉冲等于所述控制电路的时钟的一个脉冲，其中所述控制电路通过向其输入所述边沿脉冲而释放所述WAIT。

10.如权利要求1所述的集成电路，其中所述外部设备是用于检验所述集成电路的工作速度的测试器。

11.如权利要求1所述的集成电路，还包括选择器，该选择器用于在从所述外部设备直接输入到所述控制电路的读数据与经由所述测试存储部      分输入的读数据之间切换。

12.如权利要求1所述的集成电路，还包括选择器，该选择器用于在从所述控制电路直接输出到所述外部设备的写数据与经由所述测试存储部分输出的写数据之间切换。

13.如权利要求1所述的集成电路，其中所述外部设备操作所述输入电路，从而根据所述命令解释电路输出所述读命令的定时，将所述读数据以低速输入到所述测试存储部分。

14.如权利要求1所述的集成电路，其中所述外部设备操作所述输出电路，从而根据所述命令解释电路输出所述写命令的定时，从所述测试存储部分以低速输出所述写数据。