[发明专利]一种用于测定粉体的体积电阻率的装置和方法有效

专利信息
申请号: 200710103773.2 申请日: 2007-05-29
公开(公告)号: CN101315343A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: 吴声本;郜志华;黄丽;刘海瑞 申请(专利权)人: 上海比亚迪有限公司
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 王凤桐;周建秋
地址: 201611上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测定 体积 电阻率 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种用于测定粉体的体积电阻率的装置和方法。

背景技术

作为储能装置电池得到广泛应用,为减小电池内部损耗,提高电池的能 量效率,要求电池有较小的内阻。通常电池内阻包括欧姆电阻和电极在电化 学反应时所表现的极化电阻,欧姆电阻包括极片、电解液、隔膜的电阻及各 部分零件的接触电阻,其中极片的电阻在电池的内阻中占据很大的比例,并 且极片的内阻在很大程度上取决于电极材料的体积电阻率。电池电极材料的 体积电阻率过小会使电池电阻过大,倍率放电性能低下,能量效率过低。因 此,在制作电池的过程中,需要测定电极材料的体积电阻率。

现有的测定体积电阻率的方法一般包括在两电极间嵌入待测试样,使电 极与待测试样接触,在两个电极之间连接电阻计,通过电阻计测定待测试样 的电阻,利用公式:ρv=Rv·S/L来计算试样的体积电阻率。在上述公式中,ρv表示试样的体积电阻率(Ω·cm),Rv表示试样的电阻(Ω),S表示试样的横 截面面积(cm2),L表示试样的长度(cm)。在利用现有的体积电阻率测定 方法测定粉体(如电池电极材料)的体积电阻率时,需要先将粉体制成形状 规则的试样如长条形,步骤繁琐。此外,一般还需要测定电池电极材料在不 同的压实密度下的体积电阻率,因此需要将粉体制成压实密度不同的多个试 样,步骤繁琐、耗费时间。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有的测定粉体的体积电阻率的方法步骤繁 琐、耗费时间的缺点,提供一种能够方便快捷地测定粉体的体积电阻率的装 置。

本发明的另一目的是提供使用该装置的测定粉体的体积电阻率的方法。

本发明提供了一种用于测定粉体的体积电阻率的装置,该装置包括两个 导电体,其中,该装置还包括绝缘料仓,绝缘料仓的两端开口,在使用时, 所述两个导电体各自的至少一部分分别通过绝缘料仓两端的开口插入到绝 缘料仓的腔体中,两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部与 绝缘料仓的内壁无缝接触,并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的 部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动。

本发明提供了一种用于测定粉体的体积电阻率的方法,该方法包括测定 粉体的电阻,利用测得的电阻值计算粉体的体积电阻率,其中,测定粉体的 电阻的方法使用一种用于测定粉体的体积电阻率的装置,该装置包括绝缘料 仓和两个导电体,绝缘料仓的两端开口;将一个导电体的至少一部分通过绝 缘料仓一端的开口插入到绝缘料仓的腔体中,通过绝缘料仓另一端的开口将 粉体填充到绝缘料仓的腔体中,然后将另一个导电体的至少一部分通过绝缘 料仓另一端的开口插入到绝缘料仓的腔体中,两个导电体与填充在绝缘料仓 腔体中的粉体接触,两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部 与绝缘料仓的内壁无缝接触,并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中 的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动;对导电体施加压力,使粉体的压实密 度为0.5-5.0克/立方厘米,使用电阻计测定填充在绝缘料仓腔体中的粉体的 电阻。

本发明提供的用于测定粉体的体积电阻率的装置可以将粉体填充在绝 缘料仓的腔体中,两个导电体与填充在绝缘料仓腔体中的粉体接触,在两个 导电体之间施加直流电压,使用电阻计测定粉体的电阻,然后利用测得的电 阻值计算粉体的体积电阻率即可,不需要常规的测定方法中的将粉体制成试 样的步骤;此外,可以通过在导电体上施加不同的压力使粉体达到不同的压 实密度,从而测定粉体在不同压实密度下的体积电阻率,因此本发明提供的 用于测定粉体的体积电阻率的装置可以方便快捷地测定粉体的体积电阻率。

附图说明

图1为本发明提供的用于测定粉体的体积电阻率的装置的剖视图。

具体实施方式

如图1所示,本发明提供的用于测定粉体的体积电阻率的装置包括两个 导电体1,其中,该装置还包括绝缘料仓2,绝缘料仓2的两端开口,在使 用时,所述两个导电体1各自的至少一部分分别通过绝缘料仓2两端的开口 插入到绝缘料仓2的腔体中,两个导电体1的插入到绝缘料仓腔体中的部分 的至少端部与绝缘料仓2的内壁无缝接触,并且至少一个导电体1的插入到 绝缘料仓腔体中的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动。

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