[发明专利]在一次性写入盘上分配区域的方法和降低访问时间的方法有效
| 申请号： | 200710103801.0 | 申请日： | 2004-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN101051510A | 公开（公告）日： | 2007-10-10 |
| 发明（设计）人： | 黄盛凞;高祯完;李坰根 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/12 | 分类号： | G11B20/12 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;冯敏 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一次性 写入 分配 区域 方法 降低 访问 时间 | ||
1.一种在具有至少一个记录层的一次性写入盘上分配区域的方法，该方 法包括：
分配暂时缺陷管理区域，在所述暂时缺陷管理区域中记录了暂时管理信 息，所述暂时管理信息包括关于缺陷块的信息，所述暂时管理信息根据所述 盘的使用而被更新；和
分配访问信息区域，在该访问信息区域中记录了关于暂时管理信息的记 录位置的信息和关于记录条件测试区域的一部分的位置信息。
2.如权利要求1所述的方法，其中，每当预定数量的记录操作结束时， 在访问信息区域中记录所述关于暂时管理信息的记录位置的信息和关于记录 条件测试区域的一部分的位置信息。
3.如权利要求1所述的方法，其中，每当所述至少一个暂时缺陷管理区 域的预定数量的块被填充信息时，在访问信息区域中记录所述关于暂时管理 信息的记录位置的信息。
4.如权利要求1所述的方法，其中，所述关于暂时管理信息的记录位置 的信息和关于记录条件测试区域的一部分的位置信息被几次记录在访问信息 区域。
5.如权利要求1所述的方法，其中，所述记录条件测试区域的一部分是 将在下一次执行记录条件的测试的记录条件测试区域的一部分；
所述位置信息包括将在下一次执行记录条件的测试的记录条件测试区域 的一部分的开始地址。
6.一种从信息存储介质再现数据的方法，所述方法包括：
从信息存储介质的访问信息区域获得关于暂时管理信息的记录位置的信 息和关于记录条件测试区域的一部分的位置信息；
使用所述关于暂时管理信息的记录位置的信息从信息存储介质的暂时缺 陷管理区域获得暂时管理信息；
其中，所述暂时管理信息包括关于缺陷块的信息，所述暂时管理信息根 据信息存储介质的使用而被更新。
7.如权利要求6所述的方法，其中，所述记录条件测试区域的一部分是 将在下一次执行记录条件的测试的记录条件测试区域的一部分；
所述位置信息包括将在下一次执行记录条件的测试的记录条件测试区域 的一部分的开始地址。
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