[发明专利]透镜测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测定透镜的光学特性的透镜测定装置。

背景技术

以往，作为测定透镜的光学特性的透镜测定装置，公知的有如专利公开平6-174588号公报所记载的那样装置，其通过光纤对光源的光进行导光，将从光纤出射的光入射到扩散板并使之扩散，把扩散的光入射到图表(chart)而形成狭缝像，通过检测透镜把该狭缝像成像于摄像机构，根据由摄像机构摄像的图像，测定被检测透镜的MTF。此装置是作为对光源的光进行导光的光纤，使用多个分歧的器件，其抑制光对图表照射的不均匀。

【专利文献1】日本专利公开平6-174588号公报

发明内容

然而，即使为这样的装置，也不能充分减少对于图表的光的照射不均匀，因此出现不能精密良好地测定透镜的光学特性的问题。也就是说，即使对于通过多个光纤照射光的情况，在各光纤的放射部的中央位置和周围的位置，也产生光量之差，因此，发生出射光的光量不均匀。

因此，本发明是为了解决这样的课题而提出，其目的在于提供可以充分减少入射到图表的光的光量不均匀的透镜测定装置。

也就是说，本发明的透镜测定装置的特征在于，将光源的光入射到扩散机构而使之扩散，将该扩散后的光入射到图表而形成光像，将该光像入射到透镜，并由摄像机构对由该透镜所成像的光像进行摄像，基于由该摄像机构所摄像的图像，测定所述透镜的MTF，所述扩散机构是，用形成于内壁的扩散面对所入射的光进行多次反射而出射的积分球。

根据本发明，通过作为入射到图表的光的扩散机构使用积分球，从而能够把光量不均匀少的光入射到图表而进行MTF的测定。因此，可以进行非常精密的MTF的测定。

关于本发明的透镜测定装置，其特征在于，所述摄像机构，是被多个地设置，并分别对与所述透镜的光轴上的位置和光轴外的位置相对应的光像进行摄像的器件，基于与所述透镜的光轴上的位置和光轴外的位置相对应的光像的摄像图像，可以测定所述透镜的光轴上的位置和光轴外的位置的MTF。

根据本发明，由于是为了测定透镜光轴上的位置与光轴外的位置的MTF的装置，因此，通过把光量不均匀少的光由积分球入射到图表上，能够在透镜光轴上的位置和光轴外的位置的MTF的测定中，得到良好的测定值。

并且，在有关本发明的测定装置中，上述光源最好是从相对于积分球不同的位置入射多束光的器件。

根据本发明，通过从相对于积分球不同的位置入射多束光，因此，可以从积分球出射光量不均匀更少的光。

根据本发明，通过作为入射到图表的光的扩散机构使用积分球，并将光量不均匀少的光入射到图表而进行MTF的测定，因此可以进行非常精密的MTF的测定。

附图说明

图1是有关本发明实施方式的透镜测定装置之构成概要图。

图2是用于图1的透镜测定装置的托架的俯视图。

图3是在图2III-III的托架的剖面图。

图4是从图2的IV-IV所看到的托架的侧视图。

图5是用于图1的透镜测定装置的图表的说明图。

图6是表示图1的透镜测定装置的基本装置的流程图。

图7是图1的透镜测定装置的测定结果的说明图。

图8是图1的透镜测定装置的测定结果的说明图。

图9是图1的透镜测定装置的测定结果显示的说明图。

图10是图1的透镜测定装置的测定结果显示的说明图。

图11是图1的透镜测定装置的变形例的说明图。

图中：1-透镜，2-测定部，3-解析控制部，4-监视器，5-判定部，6-电源部，7-托架，23-图表，24-积分球，26-摄像机，62-防震胶片

具体实施方式

以下参照附图详细说明本发明的实施方式。另外，在图面的说明上，对同样的要素付同样的符号，省略重复说明。而且，各图所表示的部件和形成于部件的部分的构成比率不一定与说明的内容一致。

图1是有关本发明实施方式所涉及的透镜测定装置的构成概要图。有关此实施方式的透镜测定装置是测定透镜1的光学特性的装置。例如，用于MTF(Modulation Transfer Function)的测定。透镜测定装置，具备测定部2、解析控制部3、监视器4、判定部5及电源部6而构成。测定部2是测定透镜1的光学特性。测定部2及电源部6是构成装置本体的器件，分别在例如独立的筐体21、61中收置各构成部件。电源部6，作为对给装置构成部件提供电力的电源66进行收置的电装部而发挥功能。