[发明专利]从一次写入盘再现数据的方法和设备有效
申请号: | 200710104607.4 | 申请日: | 2004-12-21 |
公开(公告)号: | CN101059985A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | 黄盛熙;高祯完 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/12 | 分类号: | G11B20/12 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;冯敏 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一次 写入 再现 数据 方法 设备 | ||
1、一种再现一次写入盘的方法,所述一次写入盘包括记录有临时缺陷列 表和临时盘缺陷结构的多个临时缺陷管理区,所述方法包括:
从分配给一次写入盘的至少一个访问信息区获得访问信息,所述访问信 息指示在多个临时缺陷管理区中记录有最新的临时缺陷列表和临时盘缺陷结 构的临时缺陷管理区;和
从临时缺陷管理区获得最新的临时缺陷列表和临时盘缺陷结构,所述临 时缺陷列表包括关于缺陷区的信息,所述临时盘缺陷结构包括指示记录所述 临时缺陷列表的位置的位置指针,
其中,当记录有最新的临时缺陷列表和临时盘缺陷结构的临时缺陷管理 区被改变时,在访问信息区中更新访问信息。
2、一种再现一次写入盘的设备,所述一次写入盘包括记录有临时缺陷列 表和临时盘缺陷结构的多个临时缺陷管理区,所述设备包括:
读取器,读取记录在一次写入盘上的数据;和
控制器,控制所述读取器从分配给一次写入盘的至少一个访问信息区以 获得访问信息所述访问信息指示在多个临时缺陷管理区中记录有最新的临时 缺陷列表和临时盘缺陷结构的临时缺陷管理区,并从临时缺陷管理区获得最 新的临时缺陷列表和临时盘缺陷结构,所述临时缺陷列表包括关于缺陷区的 信息,所述临时盘缺陷结构包括指示记录所述临时缺陷列表的位置的位置指 针,
其中,当记录有最新的临时缺陷列表和临时盘缺陷结构的临时缺陷管理 区被改变时,在访问信息区中更新访问信息。
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