[发明专利]防反射构造体及包括该防反射构造体的光学装置

权利要求书

1.一种防反射构造体，用于抑制规定波长以上的光的反射，其特征在于：

该防反射构造体包括形成有多个微小凹凸部的表面，该微小凹凸部以所述规定波长以下的周期规则地排列着，该表面构成为：它的表面粗糙度大于所述规定波长，且该表面的粗糙形状的切面的法线矢量与该表面的基准面的法线矢量所成的角度的平均值在5度以上。

2.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述防反射构造体使所述反射被抑制的光透过。

3.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述每个微小凹凸部，是大致呈锥体状的凹部和凸部，或者是细长状的凹部和细长状的凸部。

4.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

用由ISO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度大于所述规定波长。

5.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于100μm。

6.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于50μm。

7.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于30μm。

8.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述多个微小凹凸部在所述基准面的法线方向上的高度相互大致相等。

9.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述表面，基本上由该表面的粗糙形状的切面的法线矢量与该表面的基准面的法线矢量所成的角度在90度以下的面构成。

10.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述多个微小凹凸部中的每个微小凹凸部都是锥体状凹部或者锥体状凸部，将所述多个微小凹凸部的每个微小凹凸部的底部中心和顶部连接起来形成的中心轴大致相互平行。

11.根据权利要求1所述的防反射构造体，其特征在于：

所述多个微小凹凸部中的每个微小凹凸部的高度都在所述反射被抑制的光的波长的0.4倍以上。

12.一种光学装置，其特征在于：

包括权利要求1所述的防反射构造体。

13.一种防反射构造体，用于抑制规定波长以上的光的反射，其特征在于：

该防反射构造体包括形成有多个微小凹凸部的表面，该微小凹凸部以所述规定波长以下的周期规则地排列着，该表面构成为：它的表面粗糙度大于所述规定波长，且该表面的粗糙形状的切面的法线矢量与该表面的基准面的法线矢量所成的角度分布的峰值大于0度。

14.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

所述防反射构造体使所述反射被抑制的光透过。

15.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

所述每个微小凹凸部，是大致呈锥体状的凹部和凸部，或者是细长状的凹部和细长状的凸部。

16.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度大于所述规定波长。

17.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于100μm。

18.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于50μm。

19.根据权利要求13所述的防反射构造体，其特征在于：

用由SO4287：1997规定的最大高度粗糙度Rz表示的所述表面的表面粗糙度小于30μm。