[发明专利]光学式测距装置及其制造方法无效
申请号: | 200710105195.6 | 申请日: | 2007-05-24 |
公开(公告)号: | CN101078771A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
发明(设计)人: | 石原武尚;民长隆之 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/48 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 测距 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种光学式测距装置,其特征在于,包括:
发光元件;
受光元件,其接受从上述发光元件射出的光;
第一光学系统,其用于形成使从上述发光元件射出的光被测距对象物反射后而到达上述受光元件的第一光路;
第二光学系统,其用于形成使从上述发光元件射出的光不被上述测距对象物反射地到达上述受光元件的第二光路;
距离信息计算机构,其基于在接受通过了上述第一光路的光时从上述受光元件射出的信号、和接受通过了上述第二光路的光时从上述受光元件输出的信号,得到距上述测距对象物的距离信息,
上述第二光学系统具有透明树脂,该透明树脂与上述发光元件的发光部和上述受光元件的受光部直接接触并将从上述发光部射出的一部分光导向上述受光部。
2.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,上述受光元件的受光部具有多个,并且上述多个受光部中的一部分与上述第一光学系统光学地耦合,其他受光部与上述第二光学系统光学地耦合。
3.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,上述第二光学系统通过遮光性树脂而与上述第一光学系统光学地分离。
4.如权利要求3所述的光学式测距装置,其特征在于,包括:
发光元件用的第一透镜及受光元件用的第二透镜,其构成上述第一光学系统并且在上述遮光性树脂之上由透明树脂形成;
第一透明树脂,其构成上述第一光学系统并且与上述发光元件直接接触;
第二透明树脂,其构成上述第一光学系统并且与上述受光元件直接接触;
两个孔眼,其设置在上述遮光性树脂的上述第一透镜及上述第二透镜的正下方,
上述第一透镜与第一透明树脂经由设置在上述遮光性树脂上的上述一个孔眼而直接接触,
上述第二透镜与上述第二透明树脂经由设置在上述遮光性树脂上的上述另一个孔眼而直接接触。
5.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,上述发光元件是发光二极管。
6.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,上述发光元件是面发光型半导体激光器,构成上述第二光学系统的上述透明树脂的与上述发光元件的发光部直接接触的部分,是散射性透明树脂。
7.一种光学式测距装置的制造方法,其用于制造权利要求3所述的光学式测距装置,其特征在于,构成上述第二光学系统的上述透明树脂通过浇注而形成,上述遮光性树脂通过铸型或传递成型而形成。
8.一种光学式测距装置的制造方法,其用于制造权利要求7所述的光学式测距装置,其特征在于,上述受光元件的受光部具有多个,并且,多个受光部中的一部分与上述第一光学系统光学地耦合,其他受光部与上述第二光学系统光学地耦合,
在与上述第一光学系统光学地耦合的受光部与上述第二光学系统光学地耦合的受光部之间,设有在上述浇注时使上述透明树脂不能够越过的壁。
9.如权利要求3所述的光学式测距装置,其特征在于,构成上述第二光学系统的上述透明树脂的两端部构成与上述发光元件的发光部及上述受光元件的受光部直接接触并且与上述发光部以及上述受光部光学地耦合的光学耦合部,
在上述两光学耦合部之间构成的透明通路的两端部经由上述光学耦合部与上述发光部及上述受光部相对,
上述透明通路的周围被上述遮光性树脂包围。
10.如权利要求9所述的光学式测距装置,其特征在于,上述透明树脂的上述透明通路具有半圆形的剖面形状,上述遮光性树脂含有反光性材料而构成。
11.一种光学式测距装置的制造方法,其用于制造权利要求9所述的光学式测距装置,其特征在于,形成表面具有两层构造的带台阶槽的上述遮光性树脂,该两层构造为从上述发光元件附近到上述受光元件附近,剖面形状形成台阶状,在设于上述遮光性树脂表面的上述带台阶槽的第一层槽内浇注上述透明树脂而固化,然后,在上述带台阶槽的第二层槽内浇注上述遮光性树脂而固化,由此,形成周围被上述遮光性树脂包围的上述透明通路。
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