[发明专利]背光模块及其校正方法无效
| 申请号： | 200710105425.9 | 申请日： | 2007-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN101055376A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | 汪德美;谢曜任;汪志松 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13357 | 分类号： | G02F1/13357;G02F1/13;G09G3/36;G09G3/34 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨俊波 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 背光 模块 及其 校正 方法 | ||
1.一种背光模块，具有多个发光区块，其特征在于，该背光模块包括：
多个发光元件，配置于该些发光区块中，且配置于同一个发光区块中的该些发光元件是同时被点亮；以及
多个光传感器，配置于该些发光区块之间，其中各该光传感器适于感测与其邻接的发光区块的发光强度。
2.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，各该发光区块为一矩形区块，且该些发光区块呈阵列排列。
3.如权利要求2所述的背光模块，其特征在于，该些发光区块中每两个彼此相邻的发光区块构成一校正区块，而各该光传感器分别配置于彼此相邻的发光区块间。
4.如权利要求3所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器的数量为R，而该些发光区块的数量为I，且P＝I/2。
5.如权利要求2所述的背光模块，其特征在于，该些发光区块中每四个彼此相邻的发光区块构成一校正区块，而各该光传感器分别配置于其中一个校正区块的中心。
6.如权利要求5所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器的数量为P，而该些发光区块的数量为I，且P＝I/4。
7.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，各该发光区块为一矩形区块，且该些发光区块呈三角形(delta)排列。
8.如权利要求7所述的背光模块，其特征在于，该些发光区块中每三个彼此相邻的发光区块构成一校正区块，而各该光传感器分别配置于其中一个校正区块的中心。
9.如权利要求8所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器的数量为P，而该些发光区块的数量为I，且P＝I/3。
10.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器的数量少于该些发光区块的数量。
11.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器的数量等于该些发光区块的数量。
12.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器呈规则性排列。
13.如权利要求12所述的背光模块，其特征在于，该些光传感器在该些发光区块之间均匀分布。
14.如权利要求1所述的背光模块，其特征在于，该些发光元件包括多个发光二极管封装。
15.如权利要求14所述的背光模块，其特征在于，该些发光二极管封装包括白光发光二极管封装。
16.一种校正方法，适于对权利要求1所述的背光模块进行校正，其特征在于，该校正方法包括：
点亮与各该光传感器邻接的其中一部分发光区块，并通过各该光传感器对此部分发光区域的发光强度进行量测；以及
点亮与各该光传感器邻接的另一部分发光区块，并通过各该光传感器对另一部分发光区域的发光强度进行量测。
17.如权利要求16所述的校正方法，其特征在于，当发光区块呈三角形(delta)排列，而该些发光区块中每三个彼此相邻的发光区块构成一校正区块，且各该光传感器分别配置于其中一个校正区块的中心时，依序点亮与各该光传感器邻接的三个发光区块。
18.如权利要求16所述的校正方法，其特征在于，当发光区块呈阵列排列，而该些发光区块中每四个彼此相邻的发光区块构成一校正区块，且各该光传感器分别配置于其中一个校正区块的中心时，依序点亮与各该光传感器邻接的四个发光区块。
19.如权利要求16所述的校正方法，其特征在于，更包括同时点亮与各该光传感器邻接的该些发光区块。
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