[发明专利]处理器利用率的测量装置及方法

权利要求书

1.一种处理器利用率的测量装置，其特征在于，包括：

系统总线，与总线监视器、计数器、以及处理器相连；

所述处理器，用于运行测量程序，在所述系统总线上产生预期总线特征，其中，所述测量程序为预先设置的可执行代码；

所述总线监视器，用于监视所述系统总线，当识别出所述预期总线特征时，产生计数器触发信号；

所述计数器，在所述总线监视器产生的所述计数器触发信号的触发下，开始计数；

定时器，通过设置其定时周期来设置利用率统计时段的时长；以及

中断控制器，用于在所述定时器的所述定时周期到达时，产生中断触发信号，并通过中断服务程序读取所述计数器的计数值；

计算程序模块，用于根据所述中断控制器读取的所述计数值计算所述处理器利用率。

2.根据权利要求1所述的处理器利用率的测量装置，其特征在于，所述计数器对所述预期总线特征的计数值用作所述处理器的工作负荷指标。

3.根据权利要求2所述的处理器利用率的测量装置，其特征在于，所述工作负荷指标包括满负荷工作指标、当前满负荷工作指标和有效负荷指标，其中，所述满负荷工作指标为所述计数器在系统引导阶段的计数值，所述当前满负荷工作指标通过所述满负荷工作指标和对应的统计时段来获得，所述有效负荷指标通过将所述当前满负荷工作指标减去所述计数器在所述对应的统计时段的计数值来获得。

4.根据权利要求3所述的处理器利用率的测量装置，其特征在于，所述计算程序模块用于将所述有效负荷指标与所述当前满负荷工作指标进行比例运算来计算所述处理器利用率。

5.一种处理器利用率的测量方法，其特征在于，包括：

步骤一，预先设置处理器满负荷指标的测量程序；

步骤二，在系统引导阶段，运行所述测量程序，在预定时间内对处理器的满负荷指标进行测量，并读取计数器的值作为所述满负荷指标的原始数据；

步骤三，在系统运行过程中，在测量利用率的统计时段，根据所述原始数据获取对应于所述统计时段的当前满负荷指标，并根据所述当前满负荷指标和所述计数器的值获取所述处理器的有效负荷指标；以及

步骤四，根据所述有效负荷指标和所述当前满负荷指标计算所述统计时段内所述处理器的利用率。

6.根据权利要求5所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，在所述步骤三中，在对一个统计时段进行测量的情况下，将定时器设置为单次定时模式，定时周期为所述统计时段的时长。

7.根据权利要求5所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，在所述步骤三中，在对多个统计时段进行测量的情况下，将定时器设置为周期定时模式，所述定时器在到期后自动重新启动。

8.根据权利要求7所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，在所述步骤三中，对于每个统计时段，将其对应的有效负荷指标存放在数据缓冲区中。

9.根据权利要求5至8中任一项所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，在所述步骤四中，通过计算程序来计算所述处理器的利用率。

10.根据权利要求5至8中任一项所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，在所述步骤三中，所述有效负荷指标等于所述当前满负荷指标与所述计数器的值的差。

11.根据权利要求5至8中任一项所述的处理器利用率的测量方法，其特征在于，所述测量程序为一段处理器可执行代码，当执行所述测量程序时，产生预期总线特征，系统在监测到所述预期总线特征时触发所述计数器开始计数。