[发明专利]经构图的介质、其时钟提取方法及时钟提取电路无效
申请号: | 200710106357.8 | 申请日: | 2007-05-18 |
公开(公告)号: | CN101149945A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | 和泉晴彦 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B20/00 | 分类号: | G11B20/00;G11B5/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟;迟军 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 构图 介质 时钟 提取 方法 电路 | ||
1.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法,所述时钟信号确定了将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时,所述时钟信号提取方法包括:
通过使用磁检测单元来检测以特定间距排列有多个磁点以记录磁信号的磁性部分,和记录在所述经构图的介质中的磁信号,所述经构图的介质包括不记录磁信号的非磁性部分;
识别出由所述磁检测单元检测的磁信号的振幅的绝对值持续地指示小于特定值的部分作为非磁性部分,并使时钟信号与所识别的非磁性部分的开始或结束的定时或者非磁性部分之后的磁性部分的磁点的磁信号的检测定时同步。
2.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法,
检测从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的振幅变为峰值的定时,并且使所述时钟信号与所述振幅变为峰值的定时同步。
3.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法,
检测从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号的斜率变为零的定时,并且使所述时钟信号与所述磁信号的斜率变为零的定时同步。
4.根据权利要求1所述的用于经构图的介质的时钟提取方法,
通过使用微分电路对从所述非磁性部分之后的所述磁性部分的所述磁点检测到的所述磁信号求微分,通过使用过零电路检测所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时,并使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
5.一种用于提取时钟信号的时钟提取方法,所述时钟信号确定将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时,所述时钟提取方法包括:
通过使用磁检测单元检测记录在经构图的介质中的磁信号,所述经构图的介质包括:以特定的间隔排列有多个磁点以记录磁信号的磁性部分;不记录磁信号的区域;和具有至少一个记录磁信号的基准点的非磁性部分;
通过使用磁检测单元检测非磁性部分中的基准点的磁信号,并使时钟信号与正被检测的基准点的磁信号的定时同步。
6.根据权利要求5所述的用于经构图的介质的时钟提取方法,
通过使用微分电路对从所述非磁性部分的所述基准点检测到的所述磁信号求微分,通过使用过零电路检测所述微分电路的输出的微分信号的值变为零的定时,并使所述时钟信号与所述微分信号的值变为零的定时同步。
7.一种经构图的介质,其特征在于,该经构图的介质具有以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分,所述磁性部分和非磁性部分均在磁道中。
8.根据权利要求7所述的经构图的介质,其中,
所述非磁性部分的特征在于,所述非磁性部分具有用于记录所述磁信号的基准点,以使所述时钟信号与所述基准点同步。
9.根据权利要求7所述的经构图的介质,
所述磁性部分和所述非磁性部分被交替地形成在单个磁道中。
10.一种磁盘装置,所述磁盘装置包括:
时钟信号生成电路,用于生成时钟信号,所述时钟信号确定将数据写入经构图的介质或从经构图的介质读取数据的定时;
磁检测单元,用于检测记录在经构图的介质中的磁信号,所述经构图的介质包括以特定的间隔排列有多个磁点的用于记录磁信号的磁性部分和不记录磁信号的非磁性部分;
零电平检测电路,用于检测一零电平,在该零电平处由所述磁检测单元检测到的磁信号的振幅的绝对值变得小于特定的值;
信号提取单元,用于从所述零电平检测电路检测到的多个零电平检测信号之中提取其脉冲宽度等于或大于特定值的信号,作为指示所述非磁性部分的位置的非磁性部分检测信号,其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述非磁性部分检测信号同步。
11.根据权利要求10所述的磁盘装置,其特征在于,
所述非磁性部分具有至少一个用于记录所述磁信号的基准点,并且
所述磁盘装置还包括斜率检测电路,所述斜率检测电路用于检测所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时,其中
所述时钟信号生成电路使所述时钟信号与所述基准点的磁信号的斜率变为零的定时同步。
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