[发明专利]影像快速自动对位的自动光学系统及其使用方法无效

专利信息
申请号: 200710107241.6 申请日: 2007-05-25
公开(公告)号: CN101312495A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 林宸生;张书绮;刘硕茸;吴国彰 申请(专利权)人: 逢甲大学
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;H04N5/232
代理公司: 天津三元专利商标代理有限责任公司 代理人: 胡畹华
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 影像 快速 自动 对位 光学系统 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种影像快速自动对位的自动光学系统的使用方法,其特征在于,包括下列步骤:

一.准备步骤:预先准备一目标样板,该目标样板上具有至少一个目标影像;将该目标样板定义为Ti,j,k(p,q),其大小为PQ,1≤i≤3,1≤p≤P,1≤q≤Q;并设定该目标样板的预定忽略灰阶值及其分布范围;再设定该目标样板的预定的特征权重矩阵;设一感光耦合组件影像控制定位装置,将该目标样板撷取至一中央处理器-可程序逻辑控制器内,由其内建程序对该目标样板及其上的目标影像进行扫描;

二.载入步骤:加载一预定的待测样板,并将该待测样板定义为Ii(x,y),大小为MN,1≤i≤3,该待测样板对应该目标影像而具有一待测影像;

三.调整步骤:依计算该待测影像的区域灰阶值所得数值,自动调整该目标影像的亮度及对比度至接近该待测影像的预定值,以线性回归法取得该待测影像的数条边线,再由数条边线求出该待测影像的中心;

四.校正补偿比对步骤:比对该目标影像与该待测影像,将线性回归计算后取得的直线方程式与取样点进行比较,若取样点与直线方程式之间的距离超过一预设阈值,则将此取样点去除,当所有取样点均判断完毕,再以剩余的取样点计算二次线性回归直线方程式,得到校正后的基准线;

将与该基准线互相垂直/平行的其余边线,朝该基准线分别作九十度旋转、一百八十度映射/平移,对该基准线进行取样点补偿运算;使原始点群组总个数k’变成k’=k+i,增加取样点数,并将此点群组进行第三次线性回归,以求得补偿后的待测影像的边线;进而求出更精准的待测影像的定位中心;

五.完成步骤:于该待测影像上比对得到吻合的目标影像。

2.根据权利要求1所述的影像快速自动对位的自动光学系统的使用方法,其特征在于:

所述目标样板是选自导电玻璃、薄膜晶体管、异方性导电胶膜其中的一种;

所述目标影像是选自圆形影像、环形影像、十字影像、四角像、矩形影像其中的一种;

所述待测样板是选自异方性导电胶膜、薄膜晶体管、导电玻璃其中的一种;

所述待测影像是选自圆形影像、环形影像、十字影像、四角像、矩形影像其中的一种。

3.根据权利要求1所述的影像快速自动对位的自动光学系统的使用方法,其特征在于,所述步骤完成后又包括:

六.组合步骤:将一异方性导电胶的一面贴附于一导电玻璃上;再将该异方性导电胶另一面的保护膜剥除;然后将一集成电路对准该导电玻璃上的导电金属层;最后进行加热、加压完成构装接合。

4.根据权利要求1所述的影像快速自动对位的自动光学系统的使用方法,其特征在于,所述调整步骤中,当该感光耦合组件影像控制定位装置撷取该目标样板,并传入该中央处理器-可程序逻辑控制器,其内建程序对该目标影像扫描出四个角落点,并作为该目标影像的边界点,对此目标影像分别进行垂直扫描及水平扫瞄;分别找出中心点坐标群组P1i(xi,yi),以及中心点坐标群组P3k(xk,yk),其中,i为所有垂直线中心点总个数,k为所有水平线中心点总个数;

所述中央处理器-可程序逻辑控制器的内建程序再分别对中心点坐标群组P1i(xi,yi)以及中心点坐标群组P3k(xk,yk)进行线性回归计算,如此对该中心点群组P1i(xi,yi)与P3k(xk,yk)各计算出一线段,以进行定位,且这两线段分别代表该目标影像的水平与垂直方向中心线;中心线交点即为此目标影像的中心点(Xc,Yc);由两线段的线性方程式可知目标影像偏转量。

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