[发明专利]用于预测电能存储器件的工作状态变化的方法和设备

权利要求书

1.一种预测电能存储器件的工作状态的变化的方法，包括：

为电能存储器件的工作参数建立多个值；

在随后的时间步长，估计与电能存储器件的工作参数的所述多个值中的每个值相关联的电能存储器件的工作状态的变化；

基于在随后的时间步长估计的与电能存储器件的工作参数的所述多个值相关联的电能存储器件的工作状态的变化，确定电能存储器件的工作状态的参数值。

2.如权利要求1所述的方法，其中电能存储器件的工作状态包括寿命状态。

3.如权利要求2所述的方法，其中电能存储器件的工作参数包括电流。

4.如权利要求3所述的方法，其中根据电流的积分、电能存储器件的放电深度以及电能存储器件的工作温度因数来确定寿命状态的变化。

5.如权利要求4所述的方法，其中电能存储器件的放电深度根据电流来确定。

6.如权利要求4所述的方法，其中电能存储器件的工作温度因数根据电能存储器件的电流和温度来确定。

7.一种预测电能存储器件寿命状态的变化的方法，包括：

为电能存储器件提供多个潜在电流电平；

在随后的时间步长，估计与电能存储器件的多个潜在电流电平中的每个电平相关联的对电能存储器件寿命状态的影响；

基于在随后的时间步长估计的与电能存储器件的多个潜在电流电平相关联的对电能存储器件寿命状态的影响，确定电能存储器件的寿命状态的参数值。

8.如权利要求7所述的方法，其中在随后的时间步长，估计对电能存储器件寿命状态的影响包括根据受电能存储器件的电流影响的至少一个因素来预测寿命状态的变化。

9.如权利要求8所述的方法，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与随时间积分的电流相关的因素。

10.如权利要求8所述的方法，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与电能存储器件的放电深度相关的因素。

11.如权利要求8所述的方法，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与电能存储器件的温度相关的因素。

12.一种预测电能存储器件寿命状态的变化的设备，包括：

用于为电能存储器件提供多个潜在电流电平的装置；

用于在随后的时间步长，估计与电能存储器件的多个潜在电流电平中的每个电平相关联的对电能存储器件寿命状态的影响的装置；

用于基于在随后的时间步长估计的与电能存储器件的多个潜在电流电平相关联的对电能存储器件寿命状态的影响，确定电能存储器件的寿命状态的参数值的装置。

13.如权利要求12所述的设备，其中用于在随后的时间步长估计对电能存储器件寿命状态的影响的装置包括用于根据受电能存储器件的电流影响的至少一个因素来预测寿命状态的变化的装置。

14.如权利要求13所述的设备，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与随时间积分的电流相关的因素。

15.如权利要求13所述的设备，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与电能存储器件的放电深度相关的因素。

16.如权利要求13所述的设备，其中受电能存储器件的电流影响的所述至少一个因素包括与电能存储器件的温度相关的因素。