[发明专利]记忆体IC检测分类机

权利要求书

1.一种记忆体IC检测分类机，其特征在于，其是包含有：

供料匣：是设在机台上，用来承置待测的记忆体IC；

收料匣：是设在机台上，用来承置完成检测的记忆体IC；

测试装置：是设在机台上，其并设有具数个常闭型测试套座的测试电路板， 该常闭型测试套座包括有底座、上座与导引座，上座以弹簧与滑片架设在底座 的上方，导引座是设在底座与上座的框架内，以导引定位IC；

顶压装置：是不与移料装置连结同动而对应设置在测试装置的一侧上方， 以下压开启测试套座，且所述的顶压装置设有可平移与升降对应各测试套座的 下压治具，以在下降压抵开启测试套座后，供移料装置自上方将记忆体IC经所 述的顶压装置而放置于测试套座内；

移料装置：是设在机台上，用来一次移载数个待/完成检测的记忆体IC在 供料匣、测试装置与收料匣间；

中央处理器：是用来控制与整合各装置作动，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的测 试装置的测试套座是装设在测试电路板上，所述的测试电路板连结至测试机。

3.根据权利要求1所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的常 闭型测试套座的底座上设有数个插置孔，并在插置孔内设有可开合的金属夹片， 在下压时可令底座的金属夹片外张，以压夹IC的接脚。

4.根据权利要求1所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：在所述的 机台上还设有定位装置，以供自供料匣移载的待测记忆体IC定位。

5.根据权利要求4所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的定 位装置开设有数个定位槽，以供定位记忆体IC。

6.根据权利要求1所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的移 料装置是可在机台上作X-Y-Z三轴向的移动。

7.根据权利要求4所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的移 料装置是设有数个可调整间距的取放器，以将供料匣内的记忆体IC变距置入在 定位装置与测试装置内。

8.根据权利要求7所述的记忆体IC检测分类机，其特征在于：所述的数 个可调整间距的取放器是在机架的前方设有一承置板，并在承置板上固设有水 平向马达用来驱动数个水平向皮带轮组，所述的数个水平向皮带轮组上则分别 装设连结有个垂直向压缸，并在所述的垂直向压缸上装设取放器。