[发明专利]封包检测电路及其方法有效
申请号: | 200710108486.0 | 申请日: | 2007-06-19 |
公开(公告)号: | CN101330347A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 张琦栋;王淳恒;宋子文;陈毓麟 | 申请(专利权)人: | 安国国际科技股份有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H04L25/06 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封包 检测 电路 及其 方法 | ||
1.一种封包检测电路,其特征在于,该电路包括:
一延迟相关函数计算电路,接收一输入信号并计算该输入信号的延迟相关函数,该延迟相关函数计算电路包括一平均值扣除电路,用于扣除该输入信号一段时间长度的平均值,该输入信号的延迟相关函数为:
其中Rn+i=Sn+i+Pn+i,Rn+D+i=Sn+D+i+Pn+D+i,而Pn+i与Pn+D+i为直流偏移的值,Sn+i为该输入信号值,Sn+D+i为延迟D+i个取样点之后的该输入信号值;
一自相关函数计算电路,用于接收该输入信号,并计算该输入信号的自相关函数;
一自相关函数直流偏移消除电路,用于计算一直流偏移值,并将该输入信号的自相关函数减去该直流偏移值,该自相关函数直流偏移消除电路的输出值为:
其中Rn+D=Sn+D+Pn+D,而Sn+D为延迟D个之后的该输入信号值,Pn+D为直流偏移的值;及
一封包检测触发计算电路,根据该延迟相关函数计算电路与该自相关函数直流偏移消除电路的输出值计算一封包检测触发值。
2.根据权利要求1所述的封包检测电路,其特征在于,该自相关函数的直流偏移值为:
其中Rn+D=Sn+D+Pn+D,而Sn+D为延迟D个之后的该输入信号值,Pn+D为直流偏移的值。
3.一种封包检测电路,其特征在于,该电路包括:
一延迟相关函数计算电路,用于计算一输入信号的延迟相关函数;
一延迟相关函数直流偏移消除电路,用于计算一第一直流偏移值,并将该延迟相关函数计算电路的计算结果减去该第一直流偏移值,该延迟相关函数直流偏移消除电路的输出值为:
其中Rn=Sn+Pn,Rn+D=Sn+D+Pn+D,而Pn与Pn+D为直流偏移的值,Sn为该输入信号值,Sn+D为延迟D个取样点之后的该输入信号值;
一自相关函数计算电路,用于计算该输入信号的自相关函数;
一自相关函数直流偏移消除电路,用于计算一第二直流偏移值,并将该自相关函数计算电路的计算结果减去该第二直流偏移值,该自相关函数直流偏移消除电路的输出值为:
其中Rn+D=Sn+D+Pn+D,而Sn+D为延迟D个之后的该输入信号值,Pn+D为直流偏移的值;及
一封包检测触发计算电路,根据该延迟相关函数直流偏移消除电路与该自相关函数直流偏移消除电路的输出值计算一封包检测触发值。
4.根据权利要求3所述的封包检测电路,其特征在于,该第一直流偏移值为:
其中Rn+i=Sn+i+Pn+i,Rn+D+i=Sn+D+i+Pn+D+i,而Pn+i与Pn+D+i为直流偏移的值,Sn+i为延迟i个取样点之后的该输入信号值,Sn+D+i为延迟D+i个取样点之后的该输入信号值。
5.根据权利要求3所述的封包检测电路,其特征在于,该第二直流 偏移值为:
其中Rn+D=Sn+D+Pn+D,而Sn+D为延迟D个之后的该输入信号值,Pn+D为直流偏移的值。
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