[发明专利]包括输出电路的半导体集成电路有效
申请号: | 200710108834.4 | 申请日: | 2007-05-31 |
公开(公告)号: | CN101083464A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 渡会诚一 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 关兆辉;孙志湧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 输出 电路 半导体 集成电路 | ||
1.一种输出电路,包括:
差分部分,其被配置为放大输入的差分信号;
电流源部分,其被配置为将电流提供给所述差分部分;
与所述差分部分连接的负载电阻部分;和
控制单元,其被配置为基于提供给所述控制单元的信号,对来自所述电流源部分的电流值和所述负载电阻部分的电阻值进行设置,
其中所述输出电路将所述差分信号转换成与所述差分信号不同的接口电平的输出信号,并平衡传输所述输出信号,
其中所述负载电阻部分包括第一电阻部分和第二电阻部分,
所述控制单元设置是否使用所述第一电阻部分和是否使用所述第二电阻部分,
其中所述第一电阻部分包括内部电阻,其连接在输出所述输出信号的两个输出端子和电源之间,
其中所述第二电阻部分包括串联连接在所述两个输出端子之间的两个外部电阻;和连接在所述电源和所述两个外部电阻的连接节点之间的外部调节电阻。
2.根据权利要求1的输出电路,进一步包括:
电平检测部分,其被配置为检测所述输出信号的输出电平,
其中响应于由所述电平检测部分所检测的输出电平,所述电流源部分对提供给所述差分部分的电流进行控制。
3.根据权利要求2的输出电路,其中所述电平检测部分包括串联连接在2个节点之间的两个电阻,从该2个节点输出所述输出信号,和
所述输出电平从所述两个电阻的连接节点输出。
4.根据权利要求2的输出电路,其中所述电流源部分包括:
基准电流源部分,其被配置为总是将恒定电流提供给所述差分部分;和
电流校正部分,其被配置为响应于来自所述电平检测部分的所述输出电平,对提供给所述差分部分的电流进行控制。
5.根据权利要求4的输出电路,其中所述电流校正部分包括:
电平确定电路,其被配置为比较所检测的输出电平和预定电平,从而输出比较结果;和
校正电流源,其被配置为基于来自所述电平确定电路的比较结果对提供给所述差分部分的电流进行控制。
6.根据权利要求5的输出电路,其中所述电平确定电路基于来自所述控制单元的控制信号停止比较结果的输出,和
所述校正电流源停止将电流提供给所述差分部分。
7.根据权利要求5的输出电路,其中所述校正电流源包括晶体管,
所述电平确定电路包括差分放大器,以及
所述差分放大器的输出与所述晶体管的栅极连接。
8.根据权利要求4的输出电路,其中所述基准电流源部分将多个预定电流值的一个输出至所述差分部分,其中所述预定电流值是由所述控制单元确定的。
9.根据权利要求4的输出电路,其中所述基准电流源部分包括:
基准电流源,其被配置为提供基准电流;
电流镜电路,其包括多个晶体管;以及
电流开关电路,其被配置为响应于来自所述控制单元的控制信号,选择所述多个晶体管中的至少一个。
10.根据权利要求5的输出电路,进一步包括:
电平生成部分,其被配置为产生多个预定电平,以及将所述多个电平中的一个输出至所述电平确定电路,其中所述电平是响应于来自所述控制单元的控制信号而确定的。
11.根据权利要求10的输出电路,其中所述电平生成部分包括:
第一电平生成部分,包括第一电流源和第一电阻,并被配置为产生第一电平;
第二电平生成部分,包括第二电流源和第二电阻,并被配置为产生第二电平;和
电平开关电路,其被配置为将响应于来自所述控制单元的控制信号而确定的所述第一和第二电平中的一个输出至所述电平确定电路。
12.根据权利要求11的输出电路,其中所述第一电平生成部分产生比电源电压低预定电压的电压,以及
所述第二电平生成部分产生比地电压高预定电压的电压。
13.根据权利要求11的输出电路,其中所述第一电阻一端连接至电源,而另一端通过所述第一电流源连接至地,以及
所述第二电阻的一端通过所述第二电流源连接至所述电源,而另一端连接至地。
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