[发明专利]半导体封装构造无效
申请号: | 200710109264.0 | 申请日: | 2007-05-25 |
公开(公告)号: | CN101060101A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | 陈奕良;陈裕文 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L23/31;H01L23/34 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 台湾省高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 构造 | ||
1.一种半导体封装构造,包含一基板,其具有一上表面;一芯片,设于所述基板之上表面;一环形体,设于所述基板之上表面且环绕所述芯片;一散热片,设于所述芯片与环形体的上方;一第一胶材,夹设于所述环形体与基板之间;及一第二胶材,夹设于所述环形体与散热片之间,其中所述环形体与所述第二胶材接触的表面系为粗糙的表面。
2.如权利要求1所述的半导体封装构造,其特征在于:所述环形体与所述第一胶材接触的表面系为粗糙的表面。
3.如权利要求1或2所述的半导体封装构造,其特征在于:所述散热片与所述第二胶材接触的表面系为粗糙的表面。
4.如权利要求1或2或3所述的半导体封装构造,其特征在于:所述基板与所述第一胶材接触的表面系为粗糙的表面。
5.如权利要求1或2或3或4所述的半导体封装构造,其特征在于:所述粗糙表面的粗糙度系为2.1至3.0微米。
6.如权利要求1或2或3或4所述的半导体封装构造,其特征在于:所述环形体系由金属所组成。
7.如权利要求1或2或3或4所述的半导体封装构造,其特征在于:所述环形体系由铜所组成。
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