[发明专利]数控展成磨齿机及展成磨齿机的数控装置和驱动方法有效
申请号: | 200710109545.6 | 申请日: | 2007-06-25 |
公开(公告)号: | CN101332524A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 朱永刚 | 申请(专利权)人: | 西门子工厂自动化工程有限公司 |
主分类号: | B23F5/02 | 分类号: | B23F5/02;B23Q5/00;B23Q1/25;G05B19/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 张亮 |
地址: | 100016北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数控 展成磨齿机 装置 驱动 方法 | ||
1.一种数控展成磨齿机,包括:工作台底座(11)、工作台滑座(12)、工作台(13)、立柱(15)以及砂轮组件,
所述工作台滑座(12)可滑动地安装于工作台底座(11)上,所述工作台(13)安装于工作台滑座(12)上用来放置待加工齿轮,所述工作台(13)可绕一旋转轴线旋转;
其特征在于,所述数控展成磨齿机进一步包括:第一电机(31)、第二电机(32)和数控装置(30),其中,
所述数控装置(30)与所述第一电机(31)和所述第二电机(32)相连,用于根据待加工齿轮的渐开线轨迹,计算工作台滑座(12)的位移与工作台(13)旋转角度的展成比值,并控制所述第一电机(31)和所述第二电机(32)分别驱动工作台滑座(12)和工作台(13)进行符合所述展成比值的展成运动;
进一步包括与所述数控装置(30)相连的第一位置测量装置(33),用于测量所述工作台(13)在所述工作台滑座(12)带动下的直线位移,得到第一测量结果,将第一测量结果输出给所述数控装置(30);
所述数控装置(30)根据第一测量结果确定工作台滑座(12)的位移补偿;
进一步包括与所述数控装置(30)相连的第二位置测量装置(34),用于测量所述工作台(13)绕所述旋转轴线的摆动角度,得到第二测量结果,将第二测量结果输出给所述数控装置(30);
所述数控装置(30)根据第二测量结果确定工作台(13)的旋转角度补偿;
所述数控装置(30)还包括轨迹运算单元(301)、控制输出单元(303)和反馈补偿单元(302),其中,
所述轨迹运算单元(301)根据待加工齿轮的渐开线轨迹,计算得到工作台滑座(12)的位移与工作台(13)旋转角度的展成比值;
所述反馈补偿单元(302)与所述第一位置测量装置(33)和所述第二位置测量装置(34)相连,分别根据第一测量结果和第二测量结果确定工作台滑座(12)的位移补偿和工作台(13)的旋转角度补偿;
所述轨迹运算单元(301)进一步与所述反馈补偿单元(302)相连,根据确定的所述位移补偿和旋转角度补偿,调整计算得到的所述展成比值;
所述控制输出单元(303)与所述轨迹运算单元(301)相连,控制所述第一电机(31)和所述第二电机(32)分别驱动工作台滑座(12)和工作台(13)进行符合所述展成比值的展成运动。
2.如权利要求1所述的数控展成磨齿机,其特征在于,所述第一位置测量装置(33)为光栅尺或与第一电机(31)相连的编码器。
3.如权利要求1所述的数控展成磨齿机,其特征在于,所述第二位置测量装置(34)为圆光栅尺或与第二电机(32)相连的编码器。
4.如权利要求1所述的数控展成磨齿机,其特征在于,所述数控装置(30)进一步包括与所述控制输出单元(303)相连的分度控制单元(304),用于在完成每一个齿间的左、右两面的磨削之后,向控制输出单元(303)输出表示工作台(13)旋转角度360度/Z的分度运动指示,其中,Z表示待加工齿轮的齿数;
所述控制输出单元(303)根据所述分度控制信号控制所述第二电机(32)驱动工作台(13)进行分度运动。
5.如权利要求1所述的数控展成磨齿机,其特征在于,所述第一电机(31)与所述工作台滑座(12)通过蜗轮-蜗杆结构相连、或通过蜗杆-螺母副结构相连、或直接相连;
所述第二电机(32)与所述工作台(13)通过蜗轮-蜗杆结构相连、或者直接相连。
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