[发明专利]热分析仪

权利要求书

1.一种通过根据以恒定速率升高或降低用于加热样品的加热炉的温度的温度程序控制温度来测量材料性质对温度的依赖性的热分析仪，其中与所述温度程序中设置的升温速率或降温速率成比例地校正所述样品和所述加热炉之间的温度偏差。

2.一种热分析仪，包括：

用于改变所述样品的温度的加热炉，其具有用于测量样品性质的性质传感器；

用于输入从所述性质传感器输出的性质信号并将这些性质信号作为测量信号输出的测量单元；

用于输出作为时间的函数的程序温度的程序温度发生器；

连接到所述测量单元和所述程序温度发生器的程序温度校正器，其校正所述程序温度并将它作为经过校正的程序温度输出；

连接到所述加热炉和所述程序温度校正器的反馈控制电路，其接收所述加热炉的温度作为反馈量并输出加热炉-加热电功率值，以使得所述加热炉的温度与所述经过校正的程序温度一致；

连接到所述加热炉和所述反馈控制电路的加热炉控制器，其将等于所述加热炉-加热电功率值的加热炉-加热电功率馈送给所述加热炉；以及

连接到所述程序温度校正器的温度偏差近似式保存器，其保存以函数方式逼近样品温度以预定速率升高或降低时的所述加热炉和所述样品之间的温度偏差的温度偏差近似式，并存储所述升温速率或所述降温速率；

其中，所述程序温度校正器基于所述温度偏差近似式、所述升温或降温速率和所述样品的温度校正所述程序温度，并将它作为所述经过校正的程序温度输出。

3.如权利要求2所述的热分析仪，其特征在于，所述温度偏差近似式保存器保存多组温度偏差近似式、升温速率和降温速率，连接到所述程序温度发生器、所述温度偏差近似式保存器和所述程序温度校正器，并且包括温度偏差近似式检索单元，所述温度偏差近似式检索单元通过使用作为所述程序温度的时间微分的程序升温或降温速率作为密钥从所述温度偏差近似式保存器中检索温度偏差近似式，并将所述温度偏差近似式输出到所述程序温度校正器；其中所述程序温度校正器基于从所述温度偏差近似式检索单元输出的所述温度偏差近似式和所述样品的温度校正所述程序温度，并将经过校正的值作为所述经过校正的程序温度输出。