[发明专利]单板测试信息存储装置及方法

权利要求书

1.一种单板测试信息存储装置，其特征在于包括：

非易失性存储单元，用于存储来自单板的单板测试信息，保证在掉电时数据不丢失；

控制处理单元，用于提供对所述非易失性存储单元的读写功能和对上位机的通信接口单元的控制功能；以及

所述通信接口单元，用于实现上位机和下位机之间测试信息的传输。

2.根据权利要求1所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板测试信息包括以下至少一种：被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单板测试状态、以及单板测试项测试状态信息。

3.根据权利要求2所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板信息的数字表示方式采用：4个比特位的二进制数字表示一位十进制数字，即，一个字节存储两个数字。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述被测单板条码分配N个字节存储空间，可存储2×N位条码数字，所述条码数字的存储顺序是条码数字从左到右依次存储，从所述存储空间的低位地址开始每一个字节存储条码的两位数字，一个字节的高4位存储两位数字中左边的数字，低4位存储两位数字中右边的数字，其中，N为正整数。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板PCB版本分配M个字节存储空间，可存储2×M位数字，存储顺序与所述单板条码的存储顺序相同，其中，M为正整数。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，所述单板测试时间分配M个字节存储空间，可存储2×M位数字，时间按照年月日来存储，各由两个数字表示，存储顺序是按照年月日依次从低位地址开始存储，一个字节的高4位存储两位数字中的十位数字，低4位存储两位数字中的个位数字，其中，M为正整数。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的单板测试信息存储装置，其特征在于，根据所述测试项的数目和存储空间的大小设置所述单板测试状态和所述单板测试项测试状态信息。

8.一种使用权利要求1至7中任一项所述的单板测试信息存储装置的单板测试信息存储方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S202，单板测试信息存储装置通过其通信接口单元接收来自上位机的通信命令；

步骤S204，所述单板测试信息存储装置根据所述通信命令对不同的单板测试信息进行不同的处理；以及

步骤S206，所述单板测试信息存储装置将处理后的单板测试信息存储到其对应的非易失性存储单元中。

9.根据权利要求8所述的单板测试信息存储方法，其特征在于，所述单板测试信息包括以下至少一种：被测单板条码、单板PCB版本、测试时间、单板测试状态、以及单板测试项测试状态信息。