[发明专利]一种GSM射频拉远系统的离线调测方法及系统有效

专利信息
申请号: 200710111521.4 申请日: 2007-06-19
公开(公告)号: CN101330701A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: 郭锋;赵志勇;王心宇;宗柏青 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q7/34 分类号: H04Q7/34;H04B17/02
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 许志勇;颜涛
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 gsm 射频 系统 离线 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种GSM射频拉远系统的离线调测方法及其系统,更具体地涉及一种射频拉远系统断开网络连接的情况下,通过本地调测检查射频端设备工作是否正常的调测方法,以及完成此调测功能的离线调测系统。

背景技术

在新一代通讯设备制造领域,射频拉远系统被逐渐引起关注,典型的架构是把基站收发信台BTS分成两个部分:BBU(Base Band Unit基带单元)+RRU(Remote Radio Unit射频拉远单元),在这种架构中,中心设备和拉远的射频之间往往采用光纤等高速介质来传输。射频拉远系统在降低机房空间占用,节约射频馈线成本,以及基带资源池技术应用等等方面有显著优势。但是射频系统被安装在室外的塔架之上,必然带来安装维护上的新的课题。

在射频拉远的框架下,射频设备被远端安置在塔架上,分散布置在各个地点,相较于基带射频没有分离的系统而言,更多的部件被安放在远处塔架之上(如合分路器等),任何错误的连接,或者部件的异常,如果要等到系统开通,BSC(Base Station Controller基站控制器)和BBU软件统统运行起来,才被发现,在工程建设上会造成很大的不便。

如何测试安装的RRU是否基本能用,比如至少有个初始可用的版本;而不需要等待整个网络系统软件运行起来才能察看;最好而且简洁的方式,就是上电运行,在本地独立用测试手机能够察看该载频的功率发射等情况。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种GSM射频拉远系统的离线调测方法,以解决在射频拉远系统断开网络连接的情况下,上电运行,即可在本地独立用测试手机能够察看该载频的功率发射等情况。

为了解决上述问题,本发明提供了一种GSM射频拉远系统的离线调测方法,包括以下步骤:

(1)系统启动自检后,如果检查出该拉远系统内光纤端口自环,则进入调测工作模式;

(2)调测工作模式下,系统按照默认的配置参数运行,并生成测试数据;

(3)按照时钟排列,将测试数据在每个载频按照固定频点,通过射频单元以最小功率循环发射;

(4)测试终端通过接收该载频发送的测试数据信号,察看测试信息,判断在调测工作模式下系统的运行状况;

进一步的,本发明所述的方法,其中,该拉远系统物理上至少包括两个光纤端口;

进一步的,本发明所述的方法,其中,所述测试数据为下行IQ数据;

本发明所述的方法,其中,步骤(2)中所述生成测试数据的步骤,包括:

在系统调测工作模式下,将从光纤上收到的载频的0时隙下行IQ数据提取出来后,保存在内存中,并经过上电将调入内存的该下行IQ数据加载到FPGA(Field-Programmable Gate Array现场可编程门阵列)芯片;

进一步的,本发明所述的方法,其中,所述步骤(3)包括:在调测工作模式下的工作,FPGA芯片根据该芯片所产生的时钟排列,在载频无线0时隙按照固定频点,以最小功率循环发送该下行IQ数据信号;

进一步的,本发明所述的方法,其中,步骤(4)中所述测试信息,包括:功率电平、频点信息以及解码后得到的BSIC码(Base Station Identity Code基站识别码);

为了解决上述问题,本发明还提供一种GSM射频拉远离线调测系统,用于离线调测GSM射频拉远硬件设备的运行状况,其特征在于,包括:调测工作模式启动模块、数据生成模块、循环发射模块以及数据判断模块:

调测工作模式启动模块,用于将光纤端口自环设置为离线调测系统的启动条件,并检查GSM射频拉远硬件设备内光纤端口自环情况,触发数据生成模块启动;

数据生成模块,用于在GSM射频拉远软件系统调测工作模式下,将从光纤上收到的载频的测试数据提取出来后,保存在内存中,并经过上电将调入内存的该测试数据加载到FPGA芯片;

循环发射模块,用于接收数据生成模块产生的测试数据,并把每个载频按照固定频点,通过射频单元以最低功率循环发送;

数据判断模块,用于读取循环发射模块所发射的测试数据,并转化为测试信息进行显示,判断在调测工作模式下系统的运行状况;

进一步的,本发明所述的系统,其中,该GSM射频拉远硬件设备至少包括两个光纤端口;

进一步的,本发明所述的系统,其中,所述测试数据为下行IQ数据。

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