[发明专利]用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备领域，更具体地涉及一种用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置。

背景技术

大规模集成电路的引脚越来越多，传统的探头测试方法和钉床式测试法在PCB布线和单板的生产测试中都存在相当程度的困难，如测试点的加入可能引起线路阻抗不连续、BGA封装的芯片测试点设置困难等问题。为了解决PCB测试方面面临的问题，联合测试活动组(Joint Test Action Group，简称JTAG)于1990年拟制了IEEE1149.1标准，将一些测试和可编程芯片程序下载等功能所需的硬件资源集成在芯片内，为用户解决测试和芯片程序下载的问题提供方便。之后又有IEEE1149.4、IEEE1149.6等几个标准支持芯片的JTAG口实现JTAG边界扫描测试(Boundary Scan Test，简称BST)和下载功能。目前越来越多的单板可以采用JTAG口BST功能。如果一个单板上具有多个JTAG口的芯片(下面简称为JTAG芯片)，则可以根据标准提供的连接方法，组成JTAG菊花链，通过对JTAG菊花链的测试，了解单板的硬件质量。

然而需要注意的是，JTAG芯片在正常工作时(非测试状态)，在上电的瞬间，包括电源重启、或者单板进行热插拔等情况，需要对JTAG口的测试端口(TEST ACCESS PORT，简称TAP)进行有效的复位(或简称为JTAG口复位)，否则可能使芯片进入一种不稳定的状态，单板无法正常工作，这种情况的发生，存在一定的概率。为了解决这些概率性发生的问题，提高单板的工作稳定性，以往没有启用JTAG口BST边界扫描测试功能的JTAG芯片，用于JTAG口复位的复位管脚(TRST)可以直接接地或通过小电阻接地，这样JTAG芯片不会因为JTAG口的问题而进入不稳定状态。但是其缺点是，这种方法中的电阻选择不合理时会限制BST边界扫描测试功能的使用，直接接地的方法中的单板正常运行时JTAG芯片不会进入不稳状态，但这样将使测试用的BST功能失效，电阻过小则要求BST测试设备的驱动能力很强，电阻过大，不会引起BST测试功能的问题，但正常工作上电时JTAG口不一定能正确复位，可能使JTAG芯片进入不稳定状态。一般JTAG器件的TRST端口在芯片内部都有一个上拉电阻，当菊花链的长度(即，JTAG菊花链上JTAG器件的数量)不一样时，这个下拉电阻的选择难以统一。

为了在JTAG口BST测试状态与正常工作上电复位两种情况下，JTAG芯片的TAP口都能进入各自的正确状态的可靠性，本发明提出了一种用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置。

发明内容

鉴于上述一个或多个问题，本发明提供了一种用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置。

根据本发明的用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置包括：隔离模块，单板上的JTAG插座和JTAG器件的菊花链通过隔离模块连接至外部器件，隔离模块用于使JTAG插座调试单板时，JTAG器件的TRST接口的电平变化不对外部器件进行误复位；以及复位电路，用于提供有效的复位脉冲给外部器件，并通过隔离模块将复位脉冲提供给JTAG器件的菊花链。

其中，隔离模块包括：第一电阻器，其第一端连接至电源Vcc，第二端连接至第一二极管的负极；第一二极管，其负极连接至JTAG器件的接口，其正极连接到第二二极管的正极：以及第二二极管，其负极连接至JTAG插座的接口。

其中，复位电路为RC电路。RC电路产生的脉冲宽度大于预定脉冲宽度。RC电路中的电阻器与第一电阻器是同一个电阻器。

可选地，复位电路为专用复位芯片。专用复位芯片为MAX706/704。在JTAG器件的数量大于预定数量的情况下，在预定间隔将信号线通过小电容接地。单板为没有热插拔要求的单板。

通过本发明，使得JTAG芯片的TAP口在处于BST测试状态和正常工作上电复位状态两种状态的情况下，都可以可靠地进入正确状态。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是示出JTAG菊花链的连接方法的示意图；

图2是示出JTAG菊花链的复位装置与其周围元件的连接关系的示意图；

图3是示出根据本发明实施例的用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置的复位电路的示意图；以及