[发明专利]确定检测器清单的不均匀性的方法有效
| 申请号： | 200710112104.1 | 申请日： | 2007-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN101271162A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | M·克勒森斯;W·埃克塞尔曼斯 | 申请（专利权）人： | 爱克发医疗保健公司 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16;G01T1/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘杰;张志醒 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 确定 检测器 清单 不均匀 方法 | ||
1. 一种检测参与在检测器清单测试中的各辐射检测器的不均匀性的方法，包括以下步骤：
-使得每一个所述检测器经受基本上完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像；
-对于每一个所述检测器产生表示在预定义数目的感兴趣区域(ROI)处的所述辐射图像的多个ROI信号；
-对于每一个所述检测器，通过相对于参考ROI信号表示所述ROI信号而产生ROI信号比值，其中所述参考ROI信号是在被取作参考感兴趣区域的其中一个所述感兴趣区域内检测到的；
-在参与到所述清单测试中的各检测器上对相应的ROI信号比值求平均，以便提取所述辐射曝光的不均匀特性；
-对于参与在所述检测器清单测试中的各检测器计算相对于所述相应的清单平均ROI信号比值所表示的所述ROI信号比值的局部偏差；
-对于每一个检测器，计算与所述平均ROI信号比值的最大的所述偏差的绝对值。
2. 根据权利要求1的方法，其中，通过对所述绝对值求平均来计算平均检测器清单不均匀性值。
3. 根据权利要求1或2的方法，其中，定义对于所述不均匀性的验收标准，并且评估所述偏差是否满足所述验收标准。
4. 根据权利要求3的方法，其中，对参与在所述清单测试中的检测器的辐射图像执行附加的视觉检查，并且所述附加的视觉检查可以被用来推翻所述评估的结果。
5. 根据权利要求1的方法，其中，通过以下步骤产生附加的ROI信号数据：把所述各检测器旋转预定义的角度，把所述各检测器曝光于所述基本上完全相同的平场曝光，以及在所述各感兴趣区域的相同位置处检测ROI信号。
6. 根据任一条在前权利要求的方法，其中，所述各感兴趣区域位于辐射检测器的中心处以及位于每一个象限的中心处。
7. 根据权利要求1的方法，其中，所述参考感兴趣区域是位于所述检测器区域的中心处的感兴趣区域。
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