[发明专利]模式特征提取方法及用于执行该方法的设备有效

专利信息
申请号: 200710112140.8 申请日: 2003-07-04
公开(公告)号: CN101082955A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 龟井俊男 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 模式 特征 提取 方法 用于 执行 设备
【权利要求书】:

1.一种模式特征提取方法,其特征在于包括:

通过使用多个特征矢量xi来表达模式特征和来自图像的特征之 一;

通过对多个特征矢量xi的每一个进行线性判别式分析来获得每一 个特征矢量的判别式矩阵Wi

通过使用判别式矩阵Wi对特征矢量xi进行线性变换获得特征矢量 yi,然后通过排列特征矢量yi而获得特征矢量y,再通过对特征矢量y进 行线性判别式分析而事先获得判别式矩阵WT;以及

进行由判别式矩阵Wi和判别式矩阵WT所指定的线性变换,

其中,该方法进一步包括:对图像进行二维傅立叶变换,

其中,所述的表达步骤包括:

提取二维傅立叶变换的实部和虚部来作为特征矢量xi,以及

计算二维傅立叶变换的功率谱和提取功率谱来作为特征矢量x2, 以及

其中,在所述的进行线性变换的步骤中,通过变换特征矢量xi来 从图像中提取特征量。

2.如权利要求1所述的模式特征提取方法,其特征在于,在进行 线性变换的步骤中,

以实现降维的方式,由对应于特征矢量xi的主成分的判别式矩阵 Wi和判别式矩阵WT所指定的线性变换,来变换对应于傅立叶分量的实 部和虚部的特征矢量x1和对应于傅立叶分量的功率谱的特征矢量x2, 从而从图像中提取特征量。

3.如权利要求1所述的模式特征提取方法,其特征在于,

表达的步骤进一步包括:将图像分割成多个区域,并且

在提取特征矢量x2的步骤中,在每一个所分割的区域中计算二维 傅立叶功率谱。

4.如权利要求3所述的模式特征提取方法,其特征在于,在分割 步骤中,区域以多种方式被分割成具有不同尺寸的区域。

5.如权利要求3所述的模式特征提取方法,其特征在于进一步包 括:通过对所获得的二维傅立叶功率谱进行kernel判别式分析而进行 特征提取并且提取有效特征量,减少特征维度。

6.如权利要求3所述的模式特征提取方法,其特征在于进一步包 括:使用通过对所获得的二维傅立叶功率谱进行线性判别式分析而事 先获得的判别式矩阵进行线性变换,减少特征维度。

7.如权利要求1所述的模式特征提取方法,其特征在于表达步骤 进一步包括:

计算二维傅立叶变换的功率谱,

将图像分割成多个区域并且对每一个区域计算二维傅立叶变换的 功率谱,以及

提取通过组合各个功率谱而获得的矢量以作为特征矢量x2

8.如权利要求6所述的模式特征提取方法,其特征在于,

事先获得判别式矩阵Wi的步骤包括:获得通过对特征矢量xi的主 成分进行线性判别式分析而获得的特征矢量的判别式矩阵Wi,其中 i=1,2,并且

在进行线性变换的步骤中,通过变换对应于傅立叶分量的实部和 虚部的特征矢量x1和对应于傅立叶分量的功率谱的特征矢量x2来从图 像中提取特征量,从而通过由用于特征矢量xi的主成分的判别式矩阵 Wi和判别式矩阵WT指定的线性变换来进行降维。

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