[发明专利]图像处理装置和方法、记录介质及程序

权利要求书

1.一种学习预测部件从第一图像数据中预测第二图像数据的学习装置，所述学习装置包括：

计算部件，用于当相应于所述第二图像数据的光信号通过低通滤光器时计算相应于光信号的图像数据，以及输出所述计算出的图像数据作为所述第一图像数据；

第一分块选取部件，从所述第一图像数据中选取相应于在所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；及

学习部件，用于学习预测部件，预测部件从所述第一分块选取部件选取的所述多个像素的像素值中预测所述关注像素的像素值。

2.根据权利要求1的学习装置，还包括：

第二分块选取部件，用于从所述第一图像数据中选取相应于所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；以及

特征检测部件，用于根据由所述第二分块选取部件选取的所述多个像素的像素值，检测相应于所述多个关注像素的特征；

其中所述学习部件学习预测部件，所述预测部件对于由所述特征检测部件检测出的每个特征，从由所述第一分块选取部件选取的所述多个像素的像素值中，预测所述关注像素的像素值。

3.根据权利要求1的学习装置，其中所述计算部件基于使作为其对象的所述低通滤光器的光信号分散的相移量和图像捕捉装置的像素间距离之间的关系，从所述第二图像数据计算所述第一图像数据。

4.一种从第一图像数据预测第二图像数据的图像处理装置，所述图像处理装置包括：

输入部件，用于输入通过将现实世界光信号经由低通滤光器投影到每个都具有空间积分效应的多个检测元件而获得的第一图像数据；

第一分块选取部件，从所述第一图像数据中选取相应于在所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；

记录部件，用于记录预测部件预先学习到的东西，从而从所述第一图像数据预测由于光信号直接投影到所述低通滤光器上而获得的所述第二图像数据；及

预测计算部件，用于基于由所述第一分块选取部件和所述预测部件选取的所述多个像素，预测所述第二图像数据内的所述关注像素的像素值。

5.根据权利要求4的图像处理装置，还包括：

第二分块选取部件，用于从所述第一图像数据中选取相应于所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；以及

特征检测部件，用于根据由所述第二分块选取部件选取的所述多个像素的像素值，检测相应于所述关注像素的特征；

其中所述预测部件进行预先学习，从而对于由所述特征检测部件检测出的每个特征，从由所述第一分块选取部件选取的所述多个像素中，预测所述关注像素的像素值。

6.根据权利要求4的图像处理装置，其中所述计算部件进行预先学习，从而基于使作为其对象的所述低通滤光器的光信号分散的相移量和图像捕捉装置的像素间距离之间的关系，从所述第二图像数据计算出的所述第一图像数据，预测由于所述光信号直接投影到所述低通滤光器上而获得的所述第二图像数据。

7.一种学习预测部件从第一图像数据中预测第二图像数据的学习方法，所述学习方法包括步骤：

计算步骤，用于当相应于所述第二图像数据的光信号通过低通滤光器时计算相应于光信号的图像数据，以及输出所述计算出的图像数据作为所述第一图像数据；

第一分块选取步骤，用于从所述第一图像数据中选取相应于在所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；及

学习步骤，用于学习所述预测部件，所述预测部件从所述第一分块选取步骤选取的所述多个像素的像素值中预测所述关注像素的像素值。

8.一种从第一图像数据预测第二图像数据的图像处理方法，所述方法包括步骤：

输入步骤，用于输入通过将现实世界光信号经由低通滤光器投影到每个都具有空间积分效应的多个检测元件而获得的第一图像数据；

第一分块选取步骤，用于从所述第一图像数据中选取相应于在所述第二图像数据中的关注像素的多个像素；

记录步骤，用于记录预测部件预先学习到的东西，从而从所述第一图像数据预测由于光信号直接投影到所述低通滤光器上而获得的所述第二图像数据；及

预测计算步骤，用于基于由所述第一分块选取步骤和所述预测部件选取的所述多个像素，预测所述第二图像数据内的所述关注像素的像素值。