[发明专利]物质成分测定装置有效
| 申请号： | 200710118470.8 | 申请日： | 2007-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN101082594A | 公开（公告）日： | 2007-12-05 |
| 发明（设计）人： | 唐飞;王晓浩;王志刚;高磊 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 物质 成分 测定 装置 | ||
1.一种物质成分测定装置，其特征在于，该装置包括离子源(2)、迁移管(12)、上离子探测器(5)、下离子探测器(19)、信号处理电路(6)、微控制器(7)、高场非对称波形电源(8)，
其中，迁移管(12)包括迁移区上电极(4)、迁移区下电极(15)、第一温度传感器(11)、第二温度传感器(18)、第一温度控制器(10)、第二温度控制器(16)；
离子源(2)位于迁移管(12)的入口处；迁移区下电极(15)接地；迁移区上电极(4)与高场非对称波形电源(8)相连，高场非对称波形电源(8)与微控制器(7)相连，第一温度传感器(11)和第二温度传感器(18)与微控制器(7)相连，第一温度控制器(10)和第二温度控制器(16)与微控制器(7)相连，上离子探测器(5)和下离子探测器(19)位于迁移管(12)的末端，上离子探测器(5)和下离子探测器(19)与信号处理电路(6)相连，信号处理电路(6)与微控制器(7)相连；
所述温度控制器为薄/厚膜微型温度控制器。
2.一种物质成分测定装置，其特征在于，该装置包括离子源(2)、多个迁移管(12)、多个上离子探测器(5)、多个下离子探测器(19)、信号处理电路(6)、微控制器(7)、高场非对称波形电源(8)；
其中，每个迁移管(12)包括迁移区上电极(4)、迁移区下电极(15)、第一温度传感器(11)、第二温度传感器(18)、第一温度控制器(10)、第二温度控制器(16)；
离子源(2)位于多个迁移管(12)的入口处；每个迁移管的迁移区下电极(15)接地，每个迁移管的迁移区上电极(4)与高场非对称波形电源(8)相连，高场非对称波形电源(8)与微控制器(7)相连，每个第一温度传感器(11)和第二温度传感器(18)与微控制器(7)相连，每个第一温度控制器(10)和第二温度控制器(16)与微控制器(7)相连，每个上离子探测器(5)和下离子探测器(19)位于迁移管(12)的末端，每个上离子探测器(5)和下离子探测器(19)与信号处理电路(6)相连，信号处理电路(6)与微控制器(7)相连；
所述温度控制器为薄/厚膜微型温度控制器。
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