[发明专利]具有铁电性的V掺杂ZnO薄膜及其制备方法无效
申请号: | 200710118962.7 | 申请日: | 2007-06-15 |
公开(公告)号: | CN101104566A | 公开(公告)日: | 2008-01-16 |
发明(设计)人: | 潘峰;杨玉超;曾飞;宋成 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | C04B41/50 | 分类号: | C04B41/50;C23C14/34 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 沈波 |
地址: | 1000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 铁电性 掺杂 zno 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种铁电性V掺杂ZnO薄膜,其特征在于:其组成中,V含量为0.2~2.0at.%,Zn和V的总含量为50at.%,其余为0。
2.根据权利要求1所述的铁电性V掺杂ZnO薄膜,其特征在于:V含量为1.3at.%。
3.一种权利要求1或2所述薄膜的制备方法,采用反应溅射的方式,其特征在于:所用靶材为纯锌和纯钒的复合靶,钒与锌靶的接触面积为锌靶面积的4~9.5%,反应气体为纯氩和纯氧,氩气和氧气的比例为1∶3至1∶1,背景真空压力小于5×10-4Pa,溅射气体总压力0.8Pa,基片温度为100~500℃。
4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于:钒与锌靶的接触面积为锌靶面积的4.5~9.0%。
5.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于:钒与锌靶的接触面积为锌靶面积的7.5%。
6.根据权利要求3~5任一所述的制备方法,其特征在于:基片温度为180~250℃。
7.根据权利要求3~6任一所述的制备方法,其特征在于:氩气和氧气的比例为3∶5。
8.根据权利要求3~7任一所述的制备方法,其特征在于:反应溅射的时间为10分钟至2小时。
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