[发明专利]一种消除中子周围剂量当量仪漏计数的方法有效
申请号: | 200710119264.9 | 申请日: | 2007-07-19 |
公开(公告)号: | CN101082674A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 李荐民;王伟珍 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 消除 中子 周围 剂量 量仪 计数 方法 | ||
1、一种消除中子周围剂量当量仪漏计数的方法,在所述当量仪的主放大器后设置多个甄别器,其特征在于,该方法包括以下步骤:
1)用小剂量照射所述当量仪的探头,通过甄别器测出所述当量仪的BF3中子正比计数管记录单个中子时输出脉冲的能谱,以下简称单中子能谱;
2)对两个单中子能谱进行统计合成,合成为两个中子同时被所述计数管记录时输出脉冲的叠加能谱,以下简称双中子叠加能谱;
所述统计合成包括以下步骤:
(1)先按能量MeV将横轴等分,0.1MeV一份;
(2)我们假设,阈值选在1.0MeV,对1.0MeV以下的脉冲不计,计算时也不考虑;对于单中子能谱,
1.0MeV~1.1MeV为第1道,
1.1MeV~1.2MeV为第2道,
……,
2.9MeV~3.0MeV为第20道;
合成后的双中子叠加能谱,
2.0MeV~2.1MeV为第一道,
2.1MeV~2.2MeV为第二道,
……,
5.9MeV~6.0MeV为第四十道;
(3)设中子1在每一道被记录的概率为1P1,1P2,1P3,...1P20,
中子2在每一道被记录的概率为2P1,2P2,2P3,...2P20,
合成后在每一道被记录的概率为P1,P2,P3,...P40;
由于2个被测中子是无关联的,每个中子都可能产生任何能量的脉冲,故合成后在每一道被记录的概率为
第一道 P1=1P1·2P1,
第二道 P2=1P1·2P2+2P1·1P2,
第三道 P3=1P1·2P3+1P2·2P2+1P3·2P1,
第四道 P4=1P1·2P4+1P2·2P3+1P3·2P2+1P4·2P1,
……
第j道
这样,两个单中子能谱就合成得到双中子叠加能谱;
3)用单中子能谱再与双中子叠加能谱进行同样的统计合成,产生3个中子同时被所述计数管记录时输出脉冲的叠加能谱,以下简称三中子叠加能谱;
4)分别对双中子叠加能谱和三中子叠加能谱积分求出各区域的面积SI,SII,SIII,SIV,其中SI为双中子叠加能谱中能量在3.0MeV以下的区域面积,SII为双中子叠加能谱中能量在3.0MeV~5.3MeV之间的区域面积;SIII为三中子叠加能谱中能量在3.0MeV~5.3MeV之间的区域,SIV为三中子叠加能谱中能量在5.3MeV以上的区域;
5)设置下述单道进行如下计数以避免3个中子以下的脉冲叠加的漏计数:
第1单道下阈1.0MeV、上阈3.0MeV,记录的每个输出脉冲代表的中子数为1;
第2单道下阈3.0MeV、上阈5.3MeV,记录的脉冲为2个中子的叠加形成的脉冲,产生的漏计数为f2=SI/SII,即第2单道的每个输出脉冲代表的中子数为C2=2+f2=2+SI/SII;
第3单道下阈5.3MeV、上阈8.0MeV,记录的脉冲为3个中子的叠加形成的脉冲,产生的漏计数为f3=SIII/SIV,即第3单道的每个输出脉冲代表的中子数为C3=3+f3=3+SIII/SIV。
2、根据权利要求1所述的一种消除中子周围剂量当量仪漏计数的方法,其特征在于,所述甄别器为多道脉冲幅度分析器。
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