[发明专利]IC卡测试系统无效

专利信息
申请号: 200710119378.3 申请日: 2007-07-23
公开(公告)号: CN101101312A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 须清 申请(专利权)人: 北京派瑞根科技开发有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/317;G01R31/3181
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100026北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: ic 测试 系统
【说明书】:

技术领域

IC卡测试系统对满足标准规范的读卡终端和IC卡的接口电气特性进行测试并能够给出与标准规范相比较的偏差指标和对于接口信号波形的适应性指标的系统,涉及接口通讯技术、嵌入式软件技术、信号处理技术及电气特性测试技术。

背景技术

目前基于ISO7816的读卡终端的IC卡已经广泛应用于社会的各个领域,包括最为普遍的机卡分离移动通讯终端、银行IC读卡器和身份识别IC卡等。而生产读卡终端和IC卡的企业很多,产品种类层出不穷。但目前对读卡终端和IC卡进行测试的设备只能进行是否符合ISO7816的测试,但不能给出电特性接口性能,包括电平信号保护时间、波形延迟、接口特性偏差量等更多量化数据。从而不能给出不同产品的性能差异测试。同时由于读卡器与IC卡基本上是不同企业独立设计完成,种类繁多,相互之间的兼容性测试很难完成。一旦出现兼容性问题,没有一种测试设备能够给出量化的测试分析报告判定是哪种产品的问题以及有问题的产品如何改进接口性能。同时读卡终端厂商或IC卡厂商为了使自己的产品具有更好的兼容性,不得不投入大量的人力(测试人员)、物力(采购各种终端和IC卡)进行测试,这种测试对于新研制产品又需要进行重复测试。造成资源的极大浪费。

专利申请200510116809.1中,提出了采用数字化技术来测试IC卡接口电气特性的基本实现结构,但没有给出被测对象与标准规范的偏差指标的定义和计算方法,也没有给出被测对象相对于标准规范的信号波形适应性性能指标的定义和计算方法。

发明内容

本发明的IC卡测试系统不仅可以测试读卡终端和IC卡是否兼容ISO7816规范的测试,同时可以给出接口电气特性的各种详细性能指标报告,包括与规范一致性量化报告,兼容性量化指标、偏差量化指标。从而实现对读卡器和IC卡接口电气特性的更准确测试,彻底解决终端与卡片之间兼容性测试问题,实现全自动可多次重复的测试,极大降低测试成本,同时对于运营商可以选择和区分产品的性能,提高产品的质量,增强客户使用的满意度的目的。本发明还给出被测对象与标准规范的偏差指标的定义和计算方法,以及被测对象相对于标准规范的适应性性能指标的定义和计算方法。

为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:

1、IC卡测试系统,由IC卡接口电气特性测试模块、基于计算机的数据分析处理系统和分析软件构成,其中IC卡接口电气特性测试模块与基于计算机的数据分析处理系统采用计算机标准接口进行电连接,分析软件运行在基于计算机的数据分析处理系统中。

2、IC卡接口电气特性测试模块由IC卡接口电路、模拟数字(A/D)转换电路、数字模拟(D/A)转换电路、执行嵌入式软件程序的处理器(CPU)电路构成,其中IC卡接口电路中有满足ISO7816规范的IC卡接插件,IC卡接口电路与模拟数字(A/D)转换电路和数字模拟(D/A)转换电路电连接,模拟数字(A/D)转换电路和数字模拟(D/A)转换电路与执行嵌入式软件程序的处理器(CPU)电路电连接。

3、模拟数字(A/D)转换电路采用模拟数字(A/D)转换技术采集所述的IC卡接口电路上的满足ISO7816规范的IC卡接插件接口信号波形,所述的数字模拟(D/A)转换电路采用数字模拟(D/A)转换技术输出接口信号到所述的IC卡接口电路上的满足ISO7816规范的IC卡接插件上,所述的IC卡接插件与被测对象连接。

4、被测对象包含具有IC卡接口的终端设备和具有IC卡接口的IC卡片。

5、IC卡接口电气特性测试模块将经过模拟数字(A/D)转换电路获得的信息通过执行嵌入式软件程序的处理器(CPU)电路和计算机标准接口传送到基于计算机的数据分析处理系统中。

6、IC卡接口电气特性测试模块将由执行嵌入式软件程序的处理器(CPU)电路和计算机标准接口从基于计算机的数据分析处理系统中获得的信息通过数字模拟(D/A)转换电路传输到IC卡接插件上。

7、基于计算机的数据分析处理系统是以中央处理器(CPU)为信息核心计算单元的各种计算机平台。

8、分析软件是运行在所述的基于计算机的数据分析处理系统中的专门处理来自IC卡接口电气特性测试模块的数据信息并生成测试报告和控制所述的IC卡接口电气特性测试模块运行的软件程序。

9、分析软件生成的测试报告包含被测对象与标准规范相比较进行计算得到的偏差量化指标。

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