[发明专利]一种测试设备中的毛刺生成方法无效
申请号: | 200710119977.5 | 申请日: | 2007-08-06 |
公开(公告)号: | CN101364802A | 公开(公告)日: | 2009-02-11 |
发明(设计)人: | 欧阳秋笙;李丹 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | H03K3/64 | 分类号: | H03K3/64;G01R1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 设备 中的 毛刺 生成 方法 | ||
1.一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于该方法从逻辑上生成宽度可控的逻辑毛刺信号,逻辑毛刺信号通过逻辑电平变换和模拟毛刺生成电路获得幅度可控的模拟毛刺信号。
2.如权利要求1所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于其毛刺控制逻辑模块以时钟周期的倍数关系在信号线上叠加一个宽度可控的逻辑毛刺信号。
3.如权利要求1所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于其逻辑电平变换电路按一定要求生成后级能识别的信号电平。
4.如权利要求1所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于其模拟毛刺生成电路按一定要求生成幅度可控的模拟信号。
5.如权利要求1所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于其模拟毛刺生成电路采用缓冲级电路实现。
6.如权利要求5所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于缓冲级的“电源”和“地”分别由一个带驱动输出级的DAC提供。
7.如权利要求5所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于缓冲级包括一个继电器。
8.如权利要求5所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于缓冲级包括一个单刀双掷开关或者类似器件。
9.如权利要求5所述的一种测试设备中的毛刺生成方法,其特征在于缓冲级包括一个二极管和电阻构成的保护电路。
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