[发明专利]一种自适应自动检测坏点的图像处理芯片及方法有效

专利信息
申请号: 200710120217.6 申请日: 2007-08-13
公开(公告)号: CN101110050A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 吴大斌 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/34;G01R31/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 自适应 自动检测 图像 处理 芯片 方法
【权利要求书】:

1.一种自适应自动检测坏点的图像处理芯片,包括坏点检测模块;其特征在于,还包括控制模块和存储器;

所述坏点检测模块用于开流后对每一帧检测一次坏点,并将检测结果上报给控制模块;

所述存储器包括第一存储器,用于动态存储坏点数据;

所述控制模块用于读取第一存储器中的坏点数据,并和所述检测结果进行比对,根据比对的结果在第一存储器中增加、修改和删除相应的坏点数据。

2.如权利要求1所述的图像处理芯片,其特征在于:所述第一存储器中存储的坏点数据包括:坏点坐标及坏点属性;所述坏点属性包括自动检测出的坏点的可信度和统计次数。

3.如权利要求2所述的图像处理芯片,其特征在于,所述控制模块还用于保存可信度最大值、统计次数最大值、统计阈值和删除阈值;

所述控制模块根据比对的结果在第一存储器中增加、修改和删除相应的坏点数据具体是指:

如果检测出的坏点的数据已存在并且为自动检测出的坏点,只要其可信度和统计次数未达到最大值,则将第一存储器中该坏点的可信度和统计次数各加1;如果可信度和/或统计次数达到最大值,则达到最大值的不加1;

如果检测出的坏点的数据不存在;则在第一存储器里添加该坏点的数据,属性设为自动检测出的坏点,其可信度和统计次数为1;

如果第一存储器中存在坏点数据的坏点未检测出;则将第一存储器中该坏点的可信度减1,统计次数加1;

如果一个坏点的统计次数大于统计阈值而可信度小于删除阈值,或者可信度与统计次数的比值小于删除阈值,则从第一存储器里删除该坏点的数据。

4.如权利要求1所述的图像处理芯片,其特征在于:还包括坏点消除模块,所述存储器还包括第二存储器;

所述坏点消除模块用于根据第二存储器中的坏点数据进行坏点修复;

所述控制模块还用于保存更新周期并在每到达一个新的更新周期时,将第一存储器中的坏点数据,复制到第二存储器中。

5.如权利要求4所述的图像处理芯片,其特征在于:所述存储器还包括第三存储器;

所述第三存储器为下电不丢失数据的存储器,用于保存前一次下电时的坏点数据;

所述控制模块还用于在图像处理芯片上电时,将第三存储器中保存的坏点数据复制到第一存储器和第二存储器中;并在图像处理芯片下电前,将第一存储器中的坏点数据复制到第三存储器中。

6.一种在权利要求1所述的图像处理芯片中自适应自动检测坏点的方法,包括:

a、图像处理芯片上电;

b、一帧到来时,进行一次坏点检测;

c、将检测结果与第一存储器里坏点数据进行比对;

d、根据比对的结果在第一存储器中增加、修改和删除相应的坏点数据;如果继续检测则返回步骤b。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述坏点数据包括:坏点坐标及坏点属性;所述坏点属性包括自动检测出的坏点的可信度和统计次数。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述步骤d具体包括:

如果检测出的坏点的数据已存在并且为出厂坏点,则不进行处理;

如果检测出的坏点的数据已存在并且为自动检测出的坏点,只要其可信度和统计次数未达到预设的最大值,则在第一存储器里将其可信度和统计次数各加1;如果可信度和/或统计次数达到最大值,则达到最大值的不加1;

如果检测出的坏点的数据不存在,则在第一存储器里添加该坏点的数据,可信度和统计次数为1;

如果在第一存储器中存在数据的坏点未检测出,则在第一存储器里将该坏点的可信度减1,统计次数加1;

如果一个坏点的统计次数大于统计阈值而可信度小于删除阈值,或者可信度与统计次数的比值小于删除阈值则从第一存储器里删除该坏点数据。

9.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括与步骤b到d并行的步骤e:按照第二存储器中的坏点数据对各坏点进行修复。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述步骤b到e中任一步中如果到达下个更新周期,则进行步骤f:将第一存储器里的坏点数据复制到第二存储器;然后返回步骤b和步骤e。

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