[发明专利]电缆测试总线及开关矩阵电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量系统电路及其信号主通道，尤其是一种能减少设备数量、加快校准速度、降低设备故障的电缆测试总线及开关矩阵电路。 

背景技术

对称电缆(或其他平衡元件)测试系统中均用网络分析仪作为测量工具，网络分析仪是同轴端口，测试平衡对象时，需使用变量器完成不平衡/平衡转换，用开关电路完成测试目标转换。目前，国内外采用的开关电路均为“单刀多掷(SPNT)”式同轴型开关电路，其结构为星形，由于一般采用“单刀双掷”开关，被测电缆为多对数时只能通过开关级联的方法构成SPNT，“SPNT”式同轴型开关电路，是先做同轴分支、再进行同轴对称转换，故变量器安装在分支之后、终端之前，因此，变量器的数量为被测电缆数目的两倍。例如：4对电缆的测试系统，需要8只变量器及更多的同轴电缆、同轴接插件(见附图1)，附图1中各开关两端的线即为同轴电缆，同轴电缆两端各有一对同轴接插件。当被测电缆数目增加时，所需变量器及同轴电缆、同轴接插件的数自还会增加，由于变量器成本较高，这样就会增加设备成本，表1为粗略地统计“SPNT”式开关电路方案的材料用量。 

   变量器   同轴电缆   同轴接插件   4对测试系   统   8   24+4   56   50对测试   系统   100   ＞300+4   ＞500 

                             表1 

从附图1中可以看出，每次测试包括不同的两只变量器以及不同的路径，由于各变量器的性能不可能做到一致，因此每次经过不同的变量器都需要进行一次直通校准，又4选1开关的常开接点与常闭接点的衰减不同(见附图2)致使各路径的插入衰减不同，因此每次经过不同的路径都需要进行一次直通校准，也就是说，此类方案的校准次数等于各项测试的总次数，校准工作量很大，而且被测线对数越大，校准次数越多，校准耗时越多，降低测试速度；随着被测线对数的增加，需要更多的开关，电路控制部分出现故障的几率越大。 

发明内容

本发明第一方面是提供一种电缆测试总线，作为本发明第二方面所述开关矩阵电路的信号主通道。 

本发明第一方面通过一些实施例提供了如下的技术方案：一种电缆测试总线(CTB)，包括差分线对和具有双刀双掷(DPDT)功能的开关，所述开关的动触点和常闭触点连接在所述差分线对上。 

本发明第一方面通过一些实施例实现了CTB长度现场可控、CTB与目标常态隔离、CTB具有恒定的特性阻抗和宽频测试。 

本发明第二方面是提供一种开关矩阵电路，用以解决现有技术存在的问题，实现设备成本降低、校准工作量减小、设备出现故障几率降低。 

本发明第二方面通过一些实施例提供了如下的技术方案：一种以上述电缆测试总线为信号主通道的开关矩阵电路，包括两个变量器和四根电缆测试总线，所述两个变量器的同轴端分别连接两个测试系统端口，所述变量器的对称端连接所述电缆测试总线。