[发明专利]集成电路高温动态老化多产品复用测试板无效
| 申请号： | 200710120720.1 | 申请日： | 2007-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN101109785A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 宋鑫欣;万水明;隋红丽;孟丽芳 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所 | 代理人： | 田明 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 高温 动态 老化 产品 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路高温动态老化多产品复用测试板，包括多个用于插接老化子板的接口插座以及与老化测试系统连接的测试通道电路，其特征在于：根据每个接口插座上的信号pin的数量，将所有的接口插座分成若干组，同一组接口插座的同一根信号pin相互并联后，与测试板的一根信号通道连接，不同组接口插座的信号pin相互独立。
2.如权利要求1所述的集成电路高温动态老化多产品复用测试板，其特征在于：测试板上所有接口插座的电源pin以及接地pin分别连接在一起。
3.如权利要求1或2所述的集成电路高温动态老化多产品复用测试板，其特征在于：同一组接口插座位于同一列上，同列相邻的接口插座中心点间距不小于25mm。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司，未经北京中星微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710120720.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种耐热植酸酶的产生菌
- 下一篇：面包烤炉
