[发明专利]一种射频溅射制备织构化钛酸锶钡介电陶瓷薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 200710120872.1 申请日: 2007-08-28
公开(公告)号: CN101230450A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 杜军;王毅;刘保亭;魏峰;杨志民;毛昌辉 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/08;C23C14/16;C23C14/54;C23C14/58
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 溅射 制备 织构化钛酸锶钡介电 陶瓷 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种射频溅射制备(111)织构(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜的方法,其特征是包括下列步骤:

(1)、将采用RCA标准清洗工艺洗干净的单晶Si片,放入溅射设备,沉积90-110nm厚的Pt,随后将镀铂的Si片在管式炉中200-500℃退火0.5-1.5小时以作为衬底或直接镀Pt于单晶Si衬底上,并在200-500℃室温空气中退火得到(111)取向的Pt涂覆的Si基衬底最为最终沉积BST薄膜的衬底;

(2)、在溅射设备中采用射频功率预溅射满足化学剂量比Ba+Sr=1的BST陶瓷靶材20-30小时;

(3)、在Ar∶O2为1.5-1范围内,总压10-100mTorr,衬底温度为550-700℃,靶和基片的距离为40-80mm的条件下,采用射频溅射法沉积200-240nm厚的(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜,溅射完毕后,在总压为2×103-5×104Pa的氧气气氛下缓慢冷却到室温。

2.根据权利要求1所述的射频溅射制备(111)织构(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜的方法,其特征是:

(1)、将采用RCA标准清洗工艺洗干净的单晶Si片,放入溅射设备,沉积95-105nm厚的Pt,随后将镀铂的Si片在管式炉中200-500℃退火0.75-1.2小时以作为衬底或直接镀Pt于单晶Si衬底上,并在200-500℃室温空气中退火得到(111)取向的Pt涂覆的Si基衬底最为最终沉积BST薄膜的衬底;

(2)、在溅射设备中采用射频功率预溅射满足化学剂量比Ba+Sr=1的BST陶瓷靶材22-26小时;

(3)、在Ar∶O2为1.5-1范围内,总压10-100mTorr,衬底温度为550-700℃,靶和基片的距离为40-80mm的条件下,采用射频溅射法沉积210-230nm厚的(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜,溅射完毕后,在总压为2×103-5×104Pa的氧气气氛下缓慢冷却到室温。

3.根据权利要求1或2所述的射频溅射制备(111)织构(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜的方法,其特征是:

(1)、将采用RCA标准清洗工艺洗干净的单晶Si片,放入溅射设备,沉积100nm后的Pt,随后将镀铂的Si片在管式炉中200-500℃退火1小时以作为衬底或直接镀Pt于单晶Si衬底上,并在200-500℃室温空气中退火得到(111)取向的Pt涂覆的Si基衬底最为最终沉积BST薄膜的衬底;

(2)、在溅射设备中采用射频功率预溅射满足化学剂量比Ba+Sr=1的BST陶瓷靶材24小时;

(3)、在Ar∶O2为1.5-1范围内,总压10-100mTorr,衬底温度为550-700℃,靶和基片的距离为40-80mm的条件下,采用射频溅射法沉积220nm厚的(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜,溅射完毕后,在总压为2×103-5×104Pa的氧气气氛下缓慢冷却到室温。

4.根据权利要求1或2所述的射频溅射制备(111)织构(BaxSr1-x)TiO3介电陶瓷薄膜的方法,其特征是所述陶瓷靶材的制作方法包括下列步骤:

(1)、按照化学计量比称量纯度为99.9%的BaTiO3和SrTiO3(摩尔比为Ba+Sr=1)粉末,在两种粉末的混合物中添加适量乙醇或者丙酮,然后进行球磨,转速为100-250转/分钟,时间18-24小时,使两种粉末混合均匀;

(2)、将步骤(1)中所得的混合粉末进行干燥处理,1100℃预烧结4-6个小时,使BaTiO3和SrTiO3形成(BaxSr1-x)TiO3固溶体,将预烧得到的粉体用研钵研磨,并添加粘合剂聚乙烯醇,干燥,并过80或100目筛网;

(3)、采用10-35Mpa的压力将上述步骤(2)的粉末压制成薄片,直径为72毫米,厚度为3-5毫米的薄片,将预烧得到的粉体放入Al2O3坩埚,将压制好的薄片放入,并用(BaxSr1-x)TiO3固溶体粉体覆盖薄片,盖上陶瓷坩埚盖,随后将坩埚放入马弗炉中,以2-5℃/分钟的升温速率从室温缓慢升至1400℃,烧结4-6小时,再以2-5℃/分钟的降温速率降至室温,得到BST陶瓷靶材。

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