[发明专利]一种微机电系统磁执行器的制作方法无效

专利信息
申请号: 200710121074.0 申请日: 2007-08-29
公开(公告)号: CN101376489A 公开(公告)日: 2009-03-04
发明(设计)人: 易亮;欧毅;陈大鹏;景玉鹏;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微机 系统 执行 制作方法
【权利要求书】:

1、一种微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,该方法包括:

A、在硅晶片下表面上淀积氮化硅薄膜,上表面上淀积氧化硅薄膜;

B、保护正面,背面光刻,刻蚀形成氮化硅薄膜窗口;

C、正面光刻,刻蚀形成氮化硅薄膜执行器图形;

D、正面光刻,打底胶,电子束蒸发Cr/Au,剥离形成金属线圈及电极;

E、正面光刻,打底胶,蒸发种子层,电镀金;

F、正面光刻,打底胶,去金去铬;

G、正面泛曝,显影,打底胶,保护正面,腐蚀背面体硅直到氧化硅层;

H、腐蚀氧化硅,释放执行器。

2、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤A中所述硅晶片为双表面抛光的晶向为(100)的n型硅片,所述淀积采用低压化学气相沉积LPCVD方法进行,所述氮化硅薄膜的厚度为1.5μm,氧化硅薄膜厚度为2.5μm。

3、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤B中所述保护正面采用光刻胶来保护正面,背面光刻采用等离子体干法进行,刻蚀形成氮化硅薄膜窗口的尺寸为1100μm×950μm。

4、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤C中所述正面光刻采用光刻胶做掩蔽,并采用干法刻蚀氮化硅薄膜形成执行器图形。

5、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤D中所述电子束蒸发Cr的厚度为100,Au的厚度为4000,所述形成的金属线圈的宽度为10μm,线圈的间隔为5μm。

6、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤E中所述种子层为Cr/Au,其中Cr的厚度为100,Au的厚度为100,所述电镀Au的厚度为2.5μm。

7、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤F中所述去金去铬采用湿法进行。

8、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤G中所述保护正面采用crystalbond509胶来保护正面,所述腐蚀背面体硅采用在质量比为30%的KOH溶液中各向异性腐蚀。

9、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,步骤G中所述腐蚀氧化硅采用BOE溶液进行。

10、根据权利要求1所述的微机电系统磁执行器的制作方法,其特征在于,该微磁执行器尺寸为300μm×350μm,由位于一侧的2个悬臂梁支撑,悬臂梁尺寸为200μm×24μm,利用光刻胶作为绝缘材料,使上层的金属连线与下层金属线圈相连形成闭合回路。

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