[发明专利]晶片传输系统有效
申请号: | 200710121341.4 | 申请日: | 2007-09-04 |
公开(公告)号: | CN101383311A | 公开(公告)日: | 2009-03-11 |
发明(设计)人: | 张之山 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵镇勇 |
地址: | 100016北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 传输 系统 | ||
1.一种晶片传输系统,包括真空传输腔室,所述真空传输腔室连接有多个腔室,所述多个腔室包括目标处理室和过渡腔室,所述真空传输腔室设有真空机械手,所述真空机械手能在所述多个腔室之间传输晶片,其特征在于,所述的真空传输腔室与每个腔室之间的晶片通道处分别设有用于感知晶片位置信息的传感器;
所述的传感器为光电传感器或光纤传感器;
所述的传感器包括发射端和接收端,所述发射端和接收端相对设置在真空传输腔室的上壁和下壁上;
晶片在搬运中经过所述传感器时,当晶片从未遮挡光线到遮挡住光线,传感器有一个信号输出;当晶片从遮挡光线到未遮挡光线,传感器也有一个信号输出。
2.根据权利要求1所述的晶片传输系统,其特征在于,所述的传感器发出的光线垂直于所述晶片的表面。
3.根据权利要求1所述的晶片传输系统,其特征在于,所述的传感器的位置略偏于所述晶片通道的中心线。
4.根据权利要求1至3任一项所述的晶片传输系统,其特征在于,所述的机械手设有机械手控制器,所述机械手控制器包括坐标读取单元和偏差计算补偿单元,所述坐标读取单元接收传感器的信号并输入给偏差计算补偿单元。
5.根据权利要求1至3任一项所述的晶片传输系统,其特征在于,所述的机械手设有机械手控制器,所述机械手控制器包括坐标读取单元;所述的晶片传输系统还包括上位机,所述上位机设有偏差计算补偿单元,所述坐标读取单元接收传感器的信号并输入给偏差计算补偿单元。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造