[发明专利]物件瑕疵检测装置及方法、检测条件之调适方法无效

专利信息
申请号: 200710122732.8 申请日: 2007-07-02
公开(公告)号: CN101339140A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 杨璿;赖夏枝;沈家麟 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06F17/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 许志勇;霍育栋
地址: 中国台湾桃园县*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 物件 瑕疵 检测 装置 方法 条件 调适
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种物件瑕疵检测装置及方法、检测条件之调适方法,尤其涉及一种用于检测制造成品品质的瑕疵检测装置及方法、检测条件之调适方法。

背景技术

在消费性电子市场不断的快速成长,而消费周期却不断缩短的状况下,对于专门的电子制造业者而言,要想掌握市场,快速且高品质的制造是一个相当重要的课题,故能够快速检测电子成品或电子半成品的各种影像检测法或装置也应运而生。

而其中又以利用取得待测物之影像而进行检测的方法,最为广泛地应用在生产线上以辨识物件所存有的瑕疵,以在出货前能剔除瑕疵品,例如用于检测标签是否有贴歪,平面显示器或LCD(Liquid Crystal Display)的成品是否有瑕疵等等,利用影像检测除了可精减人力,增加可靠度及速度之外,更可提供瑕疵统计信息以分析生产线所面临的问题,改善整体制造流程。此外,当面对愈来愈微小的待测物件,以致肉眼无法看清楚时,则更需依赖影像检测技术以挑出瑕疵物件。

但就已知技术而言,通常是先由使用者提供物件瑕疵检测装置正确的待测物件,然后物件瑕疵检测装置将根据待测物件的特性而自动设定参数。一般而言该等自动设定参数的方法是通常很复杂,需要依赖物件瑕疵检测装置的原厂专人进行设定及校调,方能能获得最佳的检测结果,且由于参数决定了检测率的高低,因此当物件瑕疵检测装置的参数校调/设定完毕后,即无法再进一步修正该等参数,此亦间接的限制了检测结果。虽然部分的物件瑕疵检测装置具有训练的能力,但仅设计成取得所需要的信息,并无法提升检测率。

小结而言,已知上述该等设备的瑕疵在于,当待测物件有所变换时,通常需要原厂的专业技师对该等设备重新进行精密的校调后,方能重新适用于下一个待测物件。也因此,当一普通使用者需要改变待测物件时,或在需要频繁更换待测物件的场合下,常导致许多的不便利,也产生许多时间与金钱成本的浪费。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种物件瑕疵检测装置及方法、检测条件之调适方法。本发明提出根据使用者输入的信息,针对使用者需求提供快速且可自我训练以增加办识率的辨识装置及方法,及应用该瑕疵辨识方法的自动物件瑕疵检测装置,使用者可自订受测区域并选择系统所内建的瑕疵辨识方法,系统依据不同的瑕疵辨识方法产生不同的参数及预设值,分别在训练阶段及工作阶段时同步与使用者互动而进行参数最佳化的调整,由于使用者并不需了解参数设定的细节,因此能够频繁的更换不同的待测物件,使更有弹性的检测及更准确的检测率得以实现。本发明能够能迅速挑出存有瑕疵的物件,提高出货良率,同时降低人工成本。

为了解决上述问题,本发明提供了一种物件瑕疵检测方法,用于检测至少一待测物件之一瑕疵信息,其特征在于,包括步骤:

选取所述待测物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

设定一瑕疵辨识方法之复数个检测条件;

选择以人工方式调整所述检测条件;

依所述影像调整所述检测条件,及基于所述检测条件实施所述瑕疵辨识方法以检测所述待测物件而产生该待测物件之所述瑕疵信息。

进一步地,上述方法还可包括,

输出调整后之所述检测条件至一数据库。

进一步地,上述方法还可包括,所述设定步骤系由一所述数据库中取得所述检测条件而完成设定。

进一步地,上述方法还可包括,

输出所述瑕疵信息。

进一步地,上述方法还可包括,所述瑕疵辨识方法为一Blob演算法及一patterning matching演算法其中之一,而与该Blob演算法关联的所述检测条件为二值化边界值、亮度对比及物件数量其中之一。

进一步地,上述方法还可包括,所述检测条件为复数个参数。

本发明还提供了一种检测条件之调适方法,用于检测至少一模范物件而获得一瑕疵辨识方法之复数个检测条件,其特征在于,包括步骤:

选取所述模范物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

依所述影像调整所述检测条件;及

选择以人工方式调整所述检测条件。

本发明还提供了一种物件瑕疵检测装置,用于检测至少一待测物件之一瑕疵信息,包括:

一取像装置,以取得所述待测物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

一运算装置,与所述取像装置连结,用于提供一瑕疵辨识方法及与其关联的复数个检测条件并调整该等检测条件,该运算装置基于该等检测条件实施该瑕疵辨识方法以检测所述待测物件而产生该待测物件之所述瑕疵信息;

一显示装置,与所述运算装置连结,以显示所述瑕疵信息。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台达电子工业股份有限公司,未经台达电子工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710122732.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top