[发明专利]集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法

权利要求书

1.一种集成电路元件测试插座，至少包含：

插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；

多个弹性接触端子，设于该凹陷部；

定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许上述弹性接触端子穿出的端子孔；以及

至少一个锁合组件与至少一个弹性保持组件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动；

其特征在于，

上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该待测集成电路元件的每一接脚。

2.根据权利要求1所述的集成电路元件测试插座，其特征在于该锁合组件为多个螺栓与该插座本体对应的多个螺孔。

3.根据权利要求2所述的集成电路元件测试插座，其特征在于该定位导持承座进一步凹设有肩部供螺栓头抵靠。

4.根据权利要求1所述的集成电路元件测试插座，其特征在于该定位导持承座由多个导持元件所组配而成。

5.根据权利要求1所述的集成电路元件测试插座，其特征在于该多个端子孔排列于定位导持承座的中央开口部的底部四边、底部两对边或底部两邻边，同时该多个弹性接触端子排列于该凹陷部的底部四边、底部两对边或底部两邻边，而且该多个弹性接触端子的两端可沿着轴向伸缩。

6.根据权利要求1所述的集成电路元件测试插座，其特征在于该弹性保持组件容设于该凹陷部与该定位导持承座之间。

7.一种集成电路元件测试插座，包含：

插座本体，形成有多个凹陷部；

多个弹性接触端子，设于该多个凹陷部；

多个定位导持承座，容设于该多个凹陷部，各定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许该弹性接触端子穿出的端子孔；以及

多个锁合组件与多个弹性保持组件，将该多个定位导持承座限制于该多个凹陷部活动；

其特征在于，

上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该集成电路元件的每一接脚。

8.一种插座基板，主要包含有至少一个集成电路元件测试插座，该集成电路元件测试插座包含：

插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；

多个弹性接触端子，设于该凹陷部；

定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许该弹性接触端子穿出的端子孔；以及

至少一个锁合组件与至少一个弹性保持组件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动；

其特征在于，

上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该集成电路元件的每一接脚。

9.一种插座基板，主要包含有至少一个集成电路元件测试插座，该集成电路元件测试插座包含：

插座本体，形成有多个凹陷部；

多个弹性接触端子，设于该多个凹陷部；

多个定位导持承座，容设于该多个凹陷部，各定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许该弹性接触端子穿出的端子孔；以及

多个锁合组件与多个弹性保持组件，将该多个定位导持承座限制于该多个凹陷部活动；

其特征在于，

上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该集成电路元件的每一接脚。

10.一种集成电路元件测试机，主要包含有分类机和测试台，该测试台容设有插座基板，该插座基板包含有至少一个集成电路元件测试插座，该集成电路元件测试插座包含：

插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；

多个弹性接触端子，设于该凹陷部；

定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许该弹性接触端子穿出的端子孔；以及

至少一个锁合组件与至少一个弹性保持组件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动；

其特征在于，

上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该集成电路元件的每一接脚。