[发明专利]液晶显示面板及其测试方法有效
申请号: | 200710124988.2 | 申请日: | 2007-12-12 |
公开(公告)号: | CN101458405A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 黄丽娟;徐益 | 申请(专利权)人: | 群康科技(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/00;H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶显示 面板 及其 测试 方法 | ||
1.一种液晶显示面板,其包括一主动矩阵、一扫描接口、一数据接口和一测试电路,该主动矩阵包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线,该多条扫描线与该扫描接口相连,该多条数据线与该数据接口相连,其特征在于:该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部,该测试控制单元经由该多个连接部分别连接该扫描接口及数据接口,用于对该主动矩阵传输测试信号,每一连接部包括一熔丝,该熔丝用于测试之后断开该测试电路与该主动矩阵的连接。
2.如权利要求1所述的液晶显示面板,其特征在于:该多个连接部包括多个行连接部和多个列连接部,该测试控制单元包括一扫描测试器和一数据测试器,该扫描测试器通过每一行连接部连接一扫描线,该数据测试器通过每一列连接部连接一数据线。
3.如权利要求2所述的液晶显示面板,其特征在于:该行连接部进一步包括一行测试晶体管,该列连接部进一步包括一列测试晶体管,该测试控制单元进一步包括一开关控制器,每一行测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一扫描线,其源极连接该扫描测试器,其栅极连接该开关控制器;每一列测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一数据线,其源极连接该数据测试器,其栅极连接该开关控制器,该开关控制器用于控制该行测试晶体管和该列测试晶体管的开关状态。
4.如权利要求2所述的液晶显示面板,其特征在于:该行连接部进一步包括一行测试晶体管,该列连接部进一步包括一列测试晶体管,该测试控制单元进一步包括一开关控制器,每一行测试晶体管的漏极连接一扫描线,其源极经由一熔丝连接该扫描测试器,其栅极连接该开关控制器;每一列测试晶体管的漏极连接一数据线,其源极经由一熔丝连接该数据测试器,其栅极连接该开关控制器,该开关控制器用于控制该行测试晶体管和该列测试晶体管的开关状态。
5.一种液晶显示面板测试方法,其包括以下步骤:
a.提供一主动矩阵,其包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线;
b.提供一测试电路,用于测试该主动矩阵,该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部,该多个连接部连接该测试控制单元和该主动矩阵,其中,每一该连接部包括一熔丝;
c.使该多个连接部闭合,该测试控制单元通过该多个连接部对该主动矩阵传输测试信号进行测试;
d.提供一扫描接口,其连接该多条扫描线,提供一数据接口,其连接该多条数据线;
e.使该扫描接口与该测试控制单元之间、该数据接口与该测试控制单元之间形成电势差,产生一熔断电流通过该多个连接部,该熔断电流熔断该熔丝使该多个连接部断开。
6.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于:该测试控制单元包括一扫描测试器、一数据测试器,该多个连接部包括多个行连接部和多个列连接部,所述步骤c包括以下子步骤:
该扫描测试器通过该多个行连接部向该多条扫描线传输测试信号;
该数据测试器通过该多个列连接部向该多条数据线传输测试信号。
7.如权利要求6所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于:该步骤e进一步包括以下子步骤:
该扫描测试器与该扫描接口之间形成一电势差,使一熔断电流通过该多个行连接部,该熔断电流熔断该熔丝使该多个行连接部断开;
该数据测试器与该数据接口之间形成一电势差,使一熔断电流通过该多个列连接部,该熔断电流熔断该熔丝使该多个列连接部断开。
8.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于:该测试控制单元包括一扫描测试器、一数据测试器和一开关控制器,该行连接部进一步包括一行测试晶体管,该列连接部进一步包括一列测试晶体管,每一行测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一扫描线,其源极连接该扫描测试器,其栅极连接该开关控制器,每一列测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一数据线,其源极连接该数据测试器,其栅极连接该开关控制器,该步骤c进一步包括以下子步骤:
该开关控制器使该多个行测试晶体管、该多个列测试晶体管导通;
该扫描测试器通过该多个行连接部向该多条扫描线传输测试信号;
该数据测试器通过该多个列连接部向该多条数据线传输测试信号。
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