[发明专利]一种硬盘制造过程中的短路测试方法无效
| 申请号： | 200710125423.6 | 申请日： | 2007-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101465132A | 公开（公告）日： | 2009-06-24 |
| 发明（设计）人： | 邹少波;贺细兵 | 申请（专利权）人： | 深圳易拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/84 | 分类号： | G11B5/84 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈俊斌 |
| 地址： | 518035广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 硬盘 制造 过程 中的 短路 测试 方法 | ||
1.一种硬盘制造过程中的短路测试方法，其步骤包括：先将组装好的HDE盘在伺服写入设备上写入伺服码后，再装上硬盘PCBA板，然后对硬盘进行功能测试；其特征在于：
在伺服写入设备上对HDE盘写入伺服码之前，先用短路测试装置对HDE盘的P2连接卡进行短路测试，若测试合格，则进行后续步骤，否则作不合格处理。
2.如权利要求1所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试装置对P2连接卡进行短路测试时，将P2连接卡电源脚与接地脚间电阻低于设定值的HDE盘作不合格处理。
3.如权利要求2所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试装置对P2连接卡进行短路测试时，将P2连接卡电源脚与接地脚间电阻低于15kΩ的HDE盘作不合格处理。
4.如权利要求2所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试装置对P2连接卡进行短路测试时，将P2连接卡电源脚与接地脚间短路的HDE盘作不合格处理。
5.如权利要求2所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试装置设有短路测试电路。
6.如权利要求5所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试电路设有电源端口、接触开关(K2)、报警器、三极管(BG1)、三极管(BG2)；
所述接触开关(K2)与三极管(BG1)的输入端连接，用于控制三极管(BG1)的导通和截止；
所述三极管(BG1)的一输出端与三极管(BG2)的输入端连接，用于控制三极管(BG2)的导通和截止；
所述三极管(BG2)的输出端连接报警器。
7.如权利要求6所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：
所述短路测试电路还设有与电源端口连接的位置指示电路，所述位置指示电路包括限位开关和限位指示灯。
8.如权利要求6所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：所述报警器包括报警指示灯或蜂鸣器。
9.如权利要求8所述的硬盘制造过程中的短路测试方法，其特征在于：所述短路测试电路还包括与电源端口连接的电源指示灯。
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