[发明专利]一种液晶显示装置发光参数的校正方法及装置无效
申请号: | 200710125537.0 | 申请日: | 2007-12-27 |
公开(公告)号: | CN101470276A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 邵诗强 | 申请(专利权)人: | TCL集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01M11/02;G09G3/36;G09G3/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 516001广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶 显示装置 发光 参数 校正 方法 装置 | ||
1、一种液晶显示装置发光参数的校正方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:
对液晶显示装置显示屏不同区域的光学参数进行测试;
将测得的所述光学参数与标准值进行比较,并通过对光学参数不符合标准值的相应区域的LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值。
2、如权利要求1所述的校正方法,其特征在于,所述将测得的所述光学参数与标准值进行比较,并通过对光学参数不符合标准值的相应区域的LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值的步骤具体为:
将测得的所述光学参数与标准值进行比较,根据所述光学参数相对于标准值的超标幅度百分比得到使所述光学参数接近标准值的补偿系数;
根据所述补偿系数生成校正所述LED发光参数的发光系数信号,并向液晶显示装置发送发光系数信号,通过对所述LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值。
3、如权利要求1所述的校正方法,其特征在于,所述对液晶显示装置显示屏不同区域的光学参数进行测试的步骤之前,还包括以下步骤:
为液晶显示装置提供特定显示图像。
4、如权利要求1或2所述的校正方法,其特征在于,所述将测得的所述光学参数与标准值进行比较,并通过对光学参数不符合标准值的相应区域的LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值的步骤之后,还包括以下步骤:
对校正后的所述光学参数进行重新测试,以确定所述光学参数是否符合标准值,如果符合标准值则完成整个工作,如果不符合则需要进行重新校正。
5、如权利要求4所述的校正方法,其特征在于,所述光学参数包括亮度或色坐标。
6、如权利要求1所述的校正方法,其特征在于,所述液晶显示装置显示屏不同区域的光学参数与该区域的单颗LED的发光参数或多颗LED的发光参数相关。
7、一种液晶显示装置发光参数的校正装置,其特征在于,所述校正装置包括:
光学测试设备,用于对液晶显示装置显示屏不同区域的光学参数进行测试;以及
测试控制单元,用于控制调节光学测试设备的空间位置,对液晶显示装置显示屏不同区域的光学参数进行测试,将测得的光学参数与标准值进行比较,并通过对光学参数不符合标准值的相应区域的LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值。
8、如权利要求7所述的校正装置,其特征在于,所述校正装置还包括:
测试设备支架,用于支撑光学测试设备,接收测试控制单元发送的控制信号,调节光学测试设备的空间位置。
9、如权利要求7或8所述的校正装置,其特征在于,所述校正装置还包括:
图像发生器,用于为液晶显示装置提供特定显示图像。
10、如权利要求9所述的校正装置,其特征在于,所述测试控制单元包括:
测试设备支架控制模块,用于控制测试设备支架调节光学测试设备的空间位置;
测试标准值配置模块,用于配置光学参数所满足的标准值;
比较分析模块,用于将测得的所述光学参数与标准值进行比较,根据所述光学参数相对于标准值的超标幅度百分比得到使所述光学参数接近标准值的补偿系数;以及
发光参数校正模块,用于根据所述补偿系数生成校正所述LED发光参数的发光系数信号,并向液晶显示装置发送发光系数信号,通过对所述LED发光参数进行校正,使所述光学参数符合标准值。
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