[发明专利]可调整光学头物镜装配精度的治具及光学头检测调整系统

说明书

技术领域

本发明涉及光学头，尤其是可调整光学头物镜装配精度的治具及光学头检测调整系统。

背景技术

随着光存储技术的不断发展，光学头的信息读取精度不断提高。光学头的信息读取精度除了依赖于各元件的制作工艺精度外，还跟光学头在生产过程中的装配精度密切相关。其中，光学头中物镜的装配精度，直接影响由光学准直镜发出的准直光相对于物镜的入射角，入射角的大小直接影响到物镜的成像质量，从而对光学头的信息读取精度产生不良影响。

开发出简单实用的光学头物镜装配精度的调整装置对光学头制造行业意义重大，是研究人员面临的重要课题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可调整光学头物镜装配精度的治具。

为解决上述技术问题，本发明提供一种光学头调整治具，包括分别与待调光学头的滑动架主轴、副轴相对应的第一导轨和第二导轨，可对待调光学头物镜切向倾斜量进行调整的第一调节杆，以及可对待调光学头物镜径向倾斜量进行调整的第二调节杆，所述第一导轨和第二导轨为细长柱体，可穿套在待调光学头的底座上的两个通孔中。

光学头的底座上都设有分别对应于光学头的滑动架主轴、副轴的两个通孔，本发明光学头调整治具的第一导轨和第二导轨二者之间的位置关系与这两个通孔是相对应的。工作时，第一导轨和第二导轨穿套在光学头底座上的这两个通孔中，可根据需要旋动第一调节杆或第二调节杆，对待调光学头物镜的切向倾斜量或径向倾斜量进行调整。

为保证待调光学头在调整物镜装配精度时的良好固定，本发明光学头调整治具还可设置可沿第一导轨和第二导轨的伸展方向将待调光学头固定的定位装置。

本发明光学头调整治具的一种具体形式，包括底板，底板上设有安装板和支承块；第一导轨和第二导轨设于安装板上，第一调节杆旋设于支承块上，第二调节杆旋设于底板上；定位装置包括安装板和旋设于底板上的锁紧块，安装板和锁紧块可将套装于第一导轨和第二导轨上的待调光学头的底座夹紧。

本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种可检测光学头物镜的装配精度并根据检测结果对光学头物镜装配精度进行调整的治具。

为解决该技术问题，本发明提供一种光学头检测调整系统，包括激光准直仪；还包括光学头调整治具，光学头调整治具包括分别与待调光学头的滑动架主轴、副轴相对应的第一导轨和第二导轨，可对待调光学头物镜切向倾斜量进行调整的第一调节杆，以及可对待调光学头物镜径向倾斜量进行调整的第二调节杆，所述第一导轨和第二导轨为细长柱体，可穿套在待调光学头的底座上的两个通孔中；待调光学头安装于光学头调整治具时，待调光学头的物镜的光轴与激光准直仪的主光轴重合。

本发明光学头检测调整系统中的激光准直仪包括激光模组，以及沿激光准直仪的主光轴依次排列的光信号采集模块、负透镜、正透镜和分光镜。

工作时，激光模组可发出激光，光经过分光镜投射到待调光学头的物镜的平镜部分上，经物镜的平镜部分反射后再经分光镜、正透镜、负透镜，达到光信号采集模块。光信号采集模块可对这反射光的信号进行判断，通过这反射光在光信号采集模块的实际位置与该采集模块的几何中心的重合度得出待调光学头物镜的装配精度是否达标的检测结果，然后根据检测结果相应地旋动第一调节杆或第二调节杆，对待调光学头物镜的切向倾斜量或径向倾斜量进行调整。

本发明光学头检测调整系统的激光准直仪中，正透镜焦距f₁、负透镜f₂、正负透镜组合焦距f、正负透镜之间的间距D₁和光信号采集模块的有效采集半径R₁可在以下范围选取：50mm＜f₁＜70mm，-70mm＜f₂＜-50mm，75mm＜f＜150mm，15mm＜D₁＜65mm，1.2mm＜R₁＜2.7mm。

为保证待调光学头在调整物镜装配精度时的良好固定，本发明检测调整系统的光学头调整治具中还可设置可沿第一导轨和第二导轨的伸展方向将待调光学头固定的定位装置。

本发明检测调整系统的光学头调整治具的一种具体形式，包括底板，底板上设有安装板和支承块；第一导轨和第二导轨设于安装板上，第一调节杆旋设于支承块上，第二调节杆旋设于底板上；定位装置包括安装板和旋设于底板上的锁紧块，安装板和锁紧块可将套装于第一导轨和第二导轨上的待调光学头的底座夹紧。