[发明专利]扬声器振膜等效质量及等效力顺的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种扬声器振膜物理参数的测量方法，尤其是等效质量和等效 力顺两个参数的测量方法。

背景技术

扬声器是能将电信号转换成声信号并向周围媒体辐射的电声换能器。目前， 扬声器的结构组成日趋稳定，其包括盆架，振膜，固定音圈的定心支片，音圈， 磁路部分。在设计开发扬声器的过程中，工作人员应知道制造该扬声器所需振 膜的物理参数，如等效质量和等效力顺。此外，对于制造振膜的厂商来说，知 道振膜的等效质量和等效力顺的数值，既可以精确标示给使用的客户，又可方 便工厂内部的出样质量控制，当某批产品出现问题可方便及时调整，如检查出 某批振膜产品的力顺小了，质量大了，即可检查在下料方面是不是出现了问题。

因而，在组装扬声器之前及生产出振膜后对振膜单独测量，得出其等效质 量和等效力顺参数是非常有必要的。

现有的测量振膜等效质量和等效力顺参数的方法是通常有以下两种：（1）、 采用静态测量，即在静态环境下，利用天平或其他秤量工具以称重的方法得出 振膜的质量，再用加质量块测量出振膜在此形变下得出的力顺；（2）、在静态环 境下，利用称重方法得出振膜的质量，用利用加速度传感器得到振膜的振动频 率f，再根据反推计算得到力顺，

Cms表示为力顺，Mms表示为质量。

以上的方法均存在不足:在静态条件下得到的振膜的质量及力顺与实际组 装成扬声器工作状态下所测得的结果差异比较大，故在静态环境下测的参数精 确度不高。

因而，有必要研究一种精确度高的扬声器振膜等效质量及等效力顺的测量 方法。

发明内容

本发明需解决的技术问题是克服现有技术在静态环境下测得等效质量及等 效力顺数据精确度不高的不足，提供一种精确度高，操作简便的扬声器振膜等 效质量及等效力顺的测量方法。

根据上述需解决的技术的问题，设计了一种扬声器振膜等效质量及等效力 顺的测量方法，其步骤包括：

（1）、建立一制造动态条件且密闭的工作模型，所述的工作模型包括顶部 开有定位孔及底部开有入声孔的腔体、待测的振膜和驱动扬声器，待测振膜固 定在所述的定位孔内且其上的中孔用胶布封住，驱动扬声器上发音的喇叭抵接 入声孔以实现向密闭腔体内辐射声波，从而驱动待测振膜产生耦合振动；

（2）、提供一电声测试设备，并使驱动扬声器的电信息输入端与电声测试 设备电连接以实现制造出耦合振动，再通过该设备测试出所述工作模型在此耦 合振动状态下的电阻抗曲线，读出该电阻抗曲线上两波峰对应的频率值w₁和 w₂；

（3）、根据上述频率值w₁及w₂和腔体及驱动扬声器的已知参数值计算出待 测振膜的等效质量及等效力顺。

所述的根据频率值w₁及w₂和腔体及驱动扬声器的已知参数值计算出待测 振膜的等效质量及等效力顺的计算方法是：

由所述工作模型的电阻抗表示式和

其声阻抗表示式其中B是指磁场有效磁场强度，l是指提供 磁场力的音圈的有效长度，Bl是指磁场的力因子，Zm是指力阻抗，S是指扬声 器的有效辐射面积，可知要使Ze最大，即Ze取电阻抗曲线的波峰值时，则Za 趋向于0，即Za=0，该工作模型声阻抗Za的表达式为