[发明专利]位移检测编码器有效

专利信息
申请号: 200710126330.5 申请日: 2007-06-29
公开(公告)号: CN101101223A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 草野亘平 申请(专利权)人: 三丰株式会社
主分类号: G01D5/249 分类号: G01D5/249;G01D5/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位移 检测 编码器
【说明书】:

技术领域

本发明涉及位移检测编码器,特别涉及优选适用于使用了伪随机码的绝对测长型编码器的、不追加冗长的码而以最小的码实现错误订正的位移检测编码器。

背景技术

已知有如图1中例示M系列的情况那样,利用形成了相当于伪随机码的格子作为检测图案(pattern)的刻度尺(scale)来检测绝对(ABS)位置的位移检测编码器(也称为ABS编码器)。

在该利用了伪随机码的ABS编码器中,由于在刻度尺上附着污物(ゴミ)等,在伪随机码的检测中产生错误,所以存在ABS位置信号生成的可靠性降低的问题。

为了解决这样的问题,在特开2001-296145号公报(专利文献1)中记载了:一边将从包含冗长图案的刻度尺读取的检测码依次移位一边运算绝对位置数据,并且通过该一边移位一边运算的各绝对位置数据是否连续来检测是否发生着读取错误。

而且,在特开2004-117360号公报(专利文献2)中记载了:由于污点等,在通过扫描被补充性地构成的部分区域而生成的模拟扫描信号的差(相当于通过光的对比度)已降低的情况下,与计算偏离。

但是在专利文献1中记载的技术中,不仅需要追加冗长图案,还需要一边将检测码移位一边运算绝对位置数据,运算负荷大。

而且,在专利文献2中记载的技术仅通过透过光的对比度进行判断,错误检测的精度低。

进而,专利文献1、2的任意一个都仅检测错误,因此,具有不能进行错误的订正等问题。

发明内容

本发明是要解决前述以往的问题而完成的,其课题是不需要追加冗长的码而以最小的码检测伪随机码检测的错误,同时也可以进行订正,使ABS位置信号生成的可靠性提高。

本发明通过一种位移检测编码器解决前述课题。该位移检测编码器包括:刻度尺,具有包含位置信息的位置码;检测单元,被配置为可相对于该刻度尺相对移动,同时检测在所述刻度尺中具有的至少一部分所述位置码;处理单元,处理由该检测单元检测到的一部分位置码,输出位置信息,其特征在于,对于所述被检测到的位置码,用生成位置码的位置码生成部件进行评价,检测有无错误信息。

可以在所述被检测到的位置码和由位置码生成部件生成的位置码一致的情况下,判断为没有错误,在不一致的情况下,判断为有错误。

可以通过根据所述位置码定义的错误检测位的值,检测有无错误信息。

可以定义多个所述错误检测位,通过它们的值,确定错误发生的位。

所述位置码可以包含伪随机码。

所述位置码生成部件可以包含所述伪随机码的生成式。

所述位置码生成部件可以是具有位置信息和位置码的对应表的位置码生成部件。

可以根据检测了有无所述错误信息的结果,去除或者订正检测到的错误信息。

可以包括增量位置检测部件,用于对通过所述位置检测码检测的位置信息进行插补,提高分辨率。

按照本发明,可以不追加冗长的码,以最小的码检测检测码中的错误位的存在。进而,通过确定检测码中的错误位,可以进行订正,使ABS位置信号生成的可靠性提高。

本发明的上述和其它新颖的特征和优点可以从优选实施方式的以下具体的描述而变得清楚。

附图说明

图1是表示M系列伪随机码的例子的图。

图2是表示M系列伪随机码的生成方法的图。

图3是表示用于实施本发明的装置的实施方式的图。

图4是表示通过本发明验算伪随机码的一个方法的图。

图5是表示其它方法的图。

图6是表示检查错误的订正方法的图。

图7是表示装置的变形例的图。

具体实施方式

参照附图描述优选实施方式,其中在全部附图中已被指示的同样的要素赋予同样的参照标号。

以下参照附图详细地说明本发明的实施方式。

首先,参照图2说明M系列伪随机码的生成方法。

如果将初始值设为1110001000010100的16位,将抽头(tap)位置设在其第1位、第5位、第7位和第14位,则伪随机数P0以下式进行定义。

P0=D0 xor D1 xor D2 xor D3  …(1)

这里,D0是抽头位置1的数据,D1是抽头位置5的数据,D2是抽头位置7的数据,D3是抽头位置14的数据。

通过各抽头位置1、5、7、14的数据D0~D3和式(1),得到第17位的伪随机数P0。

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