[发明专利]光拾取器及光记录或再现设备无效
申请号: | 200710126335.8 | 申请日: | 2007-06-29 |
公开(公告)号: | CN101097733A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 |
发明(设计)人: | 冈特·泰伯;罗尔夫·杜珀;铃木恒雄;迈克尔·班默特 | 申请(专利权)人: | 汤姆森特许公司 |
主分类号: | G11B7/08 | 分类号: | G11B7/08 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马高平;杨梧 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 记录 再现 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种光拾取器和光记录或再现设备,用于从盘状光学记录介质,如光盘、磁光盘或全息记录介质上读取信息和/或将信息写在其上。
背景技术
盘状光学记录介质,如光盘、磁光盘或全息记录介质,以及用于从盘状光学记录介质读取信息或将信息写在其上的光拾取器都是公知的。还公知通过相对于光学头装置或所谓的光拾取器的引导轴调节横动(traverse)机构平台(deck)中盘电动机的位置,补偿移动拾取器或所谓的光学头装置的横动机构与盘电动机之间的公差。因此,盘电动机设置在单独的金属板上,可垂直于光记录或再现设备中的引导轴调节所述金属板。可是,这就意味着横动机构的中心或中心线被调节成并非正确中心线的偏移的中心线。横动机构的中心通常形成机组(set)的参考中心。因此,所述结果具有这样的不利,即,由于上述调节使得整个单元的参考中心未对准。这对机组的设计产生负面影响,因为为了确保盘的可靠负载和夹紧,参考中心对于机组设计很重要。参考中心的未对准在机组设计中形成额外的公差并使得单元与单元之间不同。额外的公差对于机组设计而言必须予以考虑,而且会给机组制造者带来最终设备的负载和夹紧性能方面的问题。由于几种公差,如盘与横动机构内部引导轴的公差,引导轴孔和光拾取器内部的致动器板固定之间的公差,致动器板固定与致动器板内的物镜之间的公差,使得光学透镜的位置稍微偏移。这导致所谓的EF-相位问题,其对所谓的三束扫描系统内轨道引导具有负面影响。设备中几个部件的非常小的公差对于最小化光学头装置中的物镜偏移是必需的,而且盘电动机必须安装在单独的金属板上以便可垂直于引导轴调节。此外,已知几种透镜调节方法和调节机构,其中沿平行于物镜光轴的方向将光学头作为整体进行调节或利用调节机构操纵光学头的几个元件以调节物镜关于光源的相对位置以及物镜光轴的倾斜。
发明内容
本发明的一个方面是通过提供一种能够实现横动机构和盘电动机之间的便捷和良好调节的光拾取器和包括该光拾取器的光学记录或再现设备,以克服现有技术的上述缺陷;本方面的另一方面是调准用于扫描盘状光学记录介质以便进行轨道引导的辅助光束。
上述方面通过独立权利要求中详细说明的特征实现。在从属权利要求中披露了本发明的有利实施例。
本发明提出一种具有调节装置的光学拾取器,所述调节装置用于在设置于光拾取器滑动底座内的平直参考表面上,将保持光学拾取器的物镜的致动器板移动到由中心线所限定的位置处,以实现光学记录或再现设备中与盘电动机的对准。调节装置是相对安装在滑动底座上的平衡弹簧在滑动底座内的平直参考表面上移动并保持致动器板的螺钉。所述中心线,例如,形成为与滑动底座中用于引导轴的至少一个引导孔相距预定距离,或者所述中心线由应用了光拾取器的对准装备来形成。在这样一种光学记录或再现设备中,即所述设备包括具有调节装置的光拾取器,所述调节装置用于通过在设置于光拾取器滑动底座中的平直参考表面上将致动器板移动到对准装备所限定的位置来调节保持物镜的光拾取器的致动器板,用于实现横动机构和盘电动机之间对准的所述对准装备由将光束照射到插入光学记录或再现设备中的光盘上并接收从光盘返回的光的光拾取器、用于径向移动光拾取器的装置以及用于旋转光盘的装置形成。所述光拾取器用于检查在从光盘最内圆周移动到最外圆周的情况下从光盘接收的+-第一级光中是否发生相位差变化,并且利用在滑动底座中平直参考表面上移动致动器板的调节装置实行调节,使得+-第一级光之间的相位差变成预定值。光拾取器所提供的主光束或辅助光束将被对准至所述对准装备所提供的参考中心线,以实现横动机构和盘电动机之间的最佳对准。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于汤姆森特许公司,未经汤姆森特许公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710126335.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。