[发明专利]记录/再现数据的方法和记录介质的盘检验方法有效
申请号: | 200710126806.5 | 申请日: | 2005-05-10 |
公开(公告)号: | CN101075456A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 黄盛凞;高祯完 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/00 | 分类号: | G11B20/00;G11B20/12 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;冯敏 |
地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 再现 数据 方法 介质 检验 | ||
1.一种记录/再现数据的方法,该方法包括:
将记录/再现单元块记录在记录介质上,记录/再现单元块包括在盘检验中将被使用的填充数据和指示所述填充数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符,所述填充数据在对记录介质进行盘检验期间被使用。
2.如权利要求1所述的方法,其中,记录/再现单元块包括:
数据块,包括所述填充数据;和
访问块,用于访问数据块,访问块包括数据块中的所述填充数据的地址信息,和所述填充标识符。
3.如权利要求1所述的方法,其中,记录/再现单元块是物理簇,其包括:
长距离簇;和
突发指示符子码簇,突发指示符子码簇包括长距离簇中的数据的地址信息,和具有所述填充标识符的哑元字节。
4.如权利要求3所述的方法,其中,所述填充标识符指示用于两个扇区的填充信息。
5.如权利要求3所述的方法,其中,所述填充标识符指示用于一个簇的填充信息。
6.如权利要求1所述的方法,还包括:
通过再现记录在记录介质上的记录/再现单元块执行盘检验;和
基于盘检验的结果将记录/再现单元块的缺陷信息记录在记录介质上。
7.如权利要求6所述的方法,还包括:
基于指示填充数据被包括在记录/再现单元块中的所述填充标识符,将数据记录在记录/再现单元块中,而不管记录/再现单元块的先前记录的数据的纠错如何。
8.如权利要求6所述的方法,还包括响应于接收到的记录/再现单元块的数据写命令,直接将数据记录在记录/再现单元块中,而不用读-修改-写处理操作,其中该记录/再现单元块作为盘检验结果被登记在缺陷块中。
9.一种记录/再现数据的方法,该方法包括:
生成包括在记录介质的盘检验中将被使用的填充数据的长距离簇;
通过将填充标识符包括在物理地址块中来生成突发指示符子码簇,该填充标识符指示长距离簇充满填充数据;
将结合长距离簇和突发指示符子码簇的物理簇记录在记录介质上;
通过再现记录在记录介质上的物理簇执行盘检验;和
将盘检验的结果作为缺陷信息记录记录介质上。
10.一种在记录单元块中记录数据的方法,该方法包括:
通过估计在记录单元块中的指示器确定填充数据是否存在于记录单元块中;和
响应于指示填充数据存在于记录单元块中的指示器,将数据记录在记录单元块中,不管记录单元块的纠错的结果如何。
11.一种记录介质的盘检验方法,该方法包括:
使用填充数据填满记录单元块;和
将指示器添加到记录单元块以指示记录单元块包括填充数据。
12.一种从记录介质的记录单元块再现数据的方法,该方法包括:
识别出设置在记录单元块中的指示器;和
根据指示器的值确定填充数据是否存在于记录单元块中。
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