[发明专利]访问盘中的数据的方法、分配盘的区域的方法及再现设备有效
申请号: | 200710126966.X | 申请日: | 2003-09-23 |
公开(公告)号: | CN101083123A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 高祯完;李坰根;黄盛凞 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;常桂珍 |
地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 访问 中的 数据 方法 分配 区域 再现 设备 | ||
1.一种访问盘中的数据的方法,该盘包括数据区域、引入区域和引出区域,该方法包括:
从盘的临时缺陷管理区域读取临时缺陷信息和临时缺陷管理信息,其中,临时缺陷信息包括盘的缺陷信息,并且临时缺陷管理区域设置在引出区域和/或引入区域中;
基于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息访问记录的数据,
其中,临时缺陷信息包括关于缺陷数据的位置信息以及关于用于替换缺陷数据的替换数据的位置信息,临时缺陷管理信息包括关于临时缺陷信息的位置信息。
2.如权利要求1所述的方法,其中:
该盘还包括设置在引出区域和/或引入区域中的缺陷管理区域;
该读取包括读取缺陷管理区域和/或临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息;并且
该访问包括基于读取的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息访问记录的数据。
3.一种与包括数据区域、引入区域和引出区域的盘一起使用的再现设备,该设备包括:
读单元,从盘读取数据;
控制器,控制读单元从盘的临时缺陷管理区域读取临时缺陷信息和临时缺陷管理信息,其中,临时缺陷信息包括盘的缺陷信息,临时缺陷管理区域设置在引出区域和/或引入区域中,并且所述控制器控制读单元基于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息访问记录的数据,
其中,临时缺陷信息包括关于缺陷数据的位置信息以及关于用于替换缺陷数据的替换数据的位置信息,临时缺陷管理信息包括关于临时缺陷信息的位置信息。
4.如权利要求3所述的设备,其中,
该盘还包括设置在引出区域和/或引入区域中的缺陷管理区域;
该读取包括读取缺陷管理区域和/或临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息;并且
该访问包括基于读取的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息访问记录的数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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