[发明专利]液晶面板检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测方法及装置，特别涉及一种用于检测液晶面板的检测方法及装置。

背景技术

随着显示器技术快速的进步与演进，传统的阴极射线管显示器(cathoderay tube，CRT)已逐渐被淘汰，取而代之的是轻、薄、短、小的液晶显示器(liquid crystal display，LCD)。由于液晶显示器具有显示质量高、能源消耗低及无辐射等优点，使得液晶显示器大量地被应用于移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本计算机、数码摄影机、数码相机、计算机屏幕以及液晶电视等通信、信息或消费性电子产品之中。

图1为公知液晶显示器A1，其包括液晶显示单元(cell)A11、以卷带式晶粒接合技术(tape automated bonding，TAB)、晶粒玻璃接合技术(chip onglass，COG)或晶粒软模接合技术(chip on film，COF)进行封装的多个封装结构A12，以及多个电路板A13。每一封装结构A12均具有一驱动集成电路芯片(liquid crystal driver IC chip)A121，用以驱动液晶显示单元A11的液晶层。

当液晶显示器A1无法正常显示图像时，可能是液晶显示单元A11受损而无法正常显示图像，也可能驱动集成电路芯片A121受损或有缺陷，因而无法依照信号正确地驱动液晶显示单元A11，导致液晶显示单元A11无法正常显示图像。根据公知技术，为了判断究竟是液晶显示单元A11或是驱动集成电路芯片A121的缺陷而发生线缺陷，必须先移除电路板A13上的驱动集成电路芯片A121，再重新安装另一个新的驱动集成电路芯片A121。若液晶显示器A1可正常显示图像，则判定被移除的驱动集成电路芯片A121缺陷或是封装制程缺陷而造成液晶显示器A1无法正常显示图像。反之，若液晶显示器A1依然无法正常显示图像，则判定液晶显示单元A11为缺陷品。前述的移除或安装驱动集成电路芯片，其实施方式是通过整体移除或安装封装结构而完成，以下所述相同。

此检测方式虽能判断液晶显示器A1无法正常显示图像的原因，但必须耗费人力于机台重新安装另一个驱动集成电路芯片A121，如此不仅造成人力、机台以及驱动集成电路芯片A121的浪费，并使整个测试流程耗费相当多的时间，进而使得液晶显示器A1的测试成本居高不下。因此，如何改善液晶显示器A1的测试方法，以减少重新安装另一个驱动集成电路芯片A121所造成的浪费，进而解决液晶显示器A的测试成本过高的缺点，是一个刻不容缓的待解决问题。

发明内容

因此，本发明提出一种液晶面板检测方法，用以检测液晶面板。液晶面板包括集成电路与显示单元(cell)，检测方法包括下列步骤：移除集成电路；将液晶面板放置于检测平台；以探针接触液晶面板的线缺陷处，其中以一对位模块抓取该液晶面板的多个对位标记之一，使该探针对准该液晶面板的线缺陷处；通过探针导入测试信号至显示单元；以及根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果，其中比较该输出的图像信号与基准信号，若该输出的图像信号与该基准信号的比较结果指出该显示单元为正常，则判定该集成电路为良好；若该输出的图像信号与该基准信号的比较结果指出该显示单元为异常，则判定该显示单元为不良。如此，即可了解显示单元是否为不良。

本发明也揭示了一种液晶面板检测装置，用以检测液晶面板，液晶面板包括集成电路、显示单元(cell)以及多个对位标记之一，液晶面板于检测前预先移除集成电路，检测装置包括：检测平台，用以承载液晶面板；对位模块，用以抓取对位标记；以及探针，其与对位模块连接，通过对位模块抓取对位标记而对准液晶面板的线缺陷处，用以导入测试信号至显示单元，并根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果。

附图说明

图1为公知液晶显示器的示意图。

图2为本发明的立体示意图。

图3为图2在A部分的局部放大图。

图4为本发明待检测的液晶面板的结构示意图。

图5为图4另一视角的示意图。

图6为本发明的液晶面板检测方法流程图。

图7为本发明的液晶面板检测示意图。

具体实施方式

关于本发明的具体技术方案及其功效，以优选实施例并结合附图说明如下。图2为本发明的液晶面板检测装置2的示意图。图3为液晶面板检测装置2的局部放大图。