[发明专利]具有自测试功能的存储器控制器及其测试方法有效

专利信息
申请号: 200710129121.6 申请日: 2007-07-11
公开(公告)号: CN101105980A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 蔡官烨 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;邸万奎
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 具有 测试 功能 存储器 控制器 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种具有自测试功能的存储器控制器,包括:

测试控制单元,其被配置为在测试模式中生成测试数据;

数据传送单元,其被配置为生成数据读取定时信号,以传送数据读取定时信号和与数据读取定时信号同步的所生成的测试数据;以及

数据输入/输出(I/O)单元,其被配置为将所传送的测试数据和所传送的数据读取定时信号反馈到数据传送单元,以便数据传送单元接收反馈测试数据和反馈数据读取定时信号,并且

其中,数据传送单元基于反馈数据读取定时信号而读取反馈测试数据,并且,测试控制单元将反馈测试数据与所生成的测试数据比较。

2.如权利要求1所述的存储器控制器,其中,在非测试模式中,数据传送单元生成数据写入定时信号,并传送所生成的数据写入定时信号和与所生成的数据写入定时信号同步的非测试数据。

3.如权利要求2所述的存储器控制器,其中,数据传送单元包括:

数据定时块,其被配置为生成数据读取定时信号,并被配置为传送所生成的数据读取定时信号;以及

数据写入块,其被配置为将与所生成的数据读取定时信号同步的所生成的测试数据传送到数据I/O单元。

4.如权利要求3所述的存储器控制器,其中,数据传送单元还包括:数据读取块,其被配置为从数据I/O单元接收反馈测试数据和反馈数据读取定时信号,并被配置为基于反馈数据读取定时信号而读取所接收的反馈测试数据。

5.如权利要求1所述的存储器控制器,其中,数据I/O单元直接反馈所传送的测试数据和所传送的数据读取定时信号。

6.如权利要求1所述的存储器控制器,其中,数据I/O单元反馈要输出到外部源的所传送的测试数据和要输出到外部源的所传送的数据读取定时信号。

7.如权利要求6所述的存储器控制器,其中,所述外部源对应于存储器件和存储器控制器测试装置之一。

8.如权利要求6所述的存储器控制器,其中,所述数据I/O单元包括:

数据反馈电路,其被配置为反馈要输出到外部源的所传送的测试数据;以及

数据定时反馈电路,其被配置为反馈要输出到外部源的所传送的数据读取定时信号。

9.如权利要求1所述的存储器控制器,其中,数据I/O单元直接反馈所传送的测试数据和所传送的数据读取定时信号,或者,基于从测试控制单元接收的内部环路控制信号,而反馈要输出到外部源的所传送的测试数据和要输出到外部源的所传送的数据读取定时信号。

10.如权利要求9所述的存储器控制器,其中,数据I/O单元包括:选择单元,其被配置为基于内部环路控制信号而选择第一信号和第二信号之一,其中,第一信号对应于直接反馈测试数据和直接反馈数据读取定时信号,而第二信号对应于要输出到外部源的所传送的测试数据和要输出到外部源的所传送的数据读取定时信号。

11.如权利要求10所述的存储器控制器,其中,数据I/O单元包括:

数据反馈电路,其被配置为反馈要输出到外部源的所生成的测试数据;以及

数据定时反馈电路,其被配置为反馈要输出到外部源的所生成的数据读取定时信号。

12.如权利要求1所述的存储器控制器,其中,测试控制单元基于从外部源接收的测试控制信号而确定操作模式,该操作模式包括测试模式和非测试模式之一。

13.如权利要求12所述的存储器控制器,其中,外部源对应于中央处理单元(CPU)和存储器控制器测试装置之一。

14.一种具有自测试功能的双倍数据速率(DDR)存储器控制器,包括:

测试控制单元,其被配置为在测试模式中生成测试数据;

数据传送单元,其被配置为生成数据读取选通信号,以传送数据读取选通信号和与数据读取选通信号同步的所生成的测试数据;以及

数据I/O单元,其被配置为将所传送的测试数据和所传送的数据读取选通信号反馈到数据传送单元,以便数据传送单元接收反馈测试数据和反馈数据读取选通信号,并且

其中,数据传送单元基于反馈数据读取选通信号而读取反馈测试数据,并且,测试控制单元将反馈测试数据与所生成的测试数据比较。

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